【技术实现步骤摘要】
本技术属于芯片检测,具体为一种用于高度集成测试机板卡的自动检测设备。
技术介绍
1、各类芯片在工厂环境下测试,测试机板卡的性能会直接影响芯片的测试结果;这就要求每一个测试通道都需要人为的连接和拆除,才能满足对测试办卡每个通道的测试,极大的影响了检测的效率。
技术实现思路
1、本技术目的是提供一种用于高度集成测试机板卡的自动检测设备。
2、本技术提供的用于高度集成测试机板卡的自动检测设备,包括外壳(1)、自检装置(2)和资源切换装置(3);所述自检装置(2)包括第一插头(23)和第一电路板;所述资源切换装置(3)包括第二电路板(34)、第二插头(36)和被测资源接头(33);所述第二插头(36)和所述被测资源接头(33)均固定在所述第二电路板(34)上;所述第一插头(23)和所述第一电路板电连接;所述自检装置(2)和资源切换装置(3)均设置在所述外壳(1)内;所述资源切换装置(3)和所述自检装置(2)电连接。
3、优选的,所述外壳(1)包括第一上壳体;所述第一上壳体包
...【技术保护点】
1.一种用于高度集成测试机板卡的自动检测设备,其特征在于,包括外壳(1)、自检装置(2)和资源切换装置(3);所述自检装置(2)包括第一插头(23)和第一电路板;所述资源切换装置(3)包括第二电路板(34)、第二插头(36)和被测资源接头(33);所述第二插头(36)和所述被测资源接头(33)均固定在所述第二电路板(34)上;所述第一插头(23)和所述第一电路板电连接;所述自检装置(2)和资源切换装置(3)均设置在所述外壳(1)内;所述资源切换装置(3)和所述自检装置(2)电连接。
2.如权利要求1所述的用于高度集成测试机板卡的自动检测设备,其特征在于,所
...【技术特征摘要】
1.一种用于高度集成测试机板卡的自动检测设备,其特征在于,包括外壳(1)、自检装置(2)和资源切换装置(3);所述自检装置(2)包括第一插头(23)和第一电路板;所述资源切换装置(3)包括第二电路板(34)、第二插头(36)和被测资源接头(33);所述第二插头(36)和所述被测资源接头(33)均固定在所述第二电路板(34)上;所述第一插头(23)和所述第一电路板电连接;所述自检装置(2)和资源切换装置(3)均设置在所述外壳(1)内;所述资源切换装置(3)和所述自检装置(2)电连接。
2.如权利要求1所述的用于高度集成测试机板卡的自动检测设备,其特征在于,所述外壳(1)包括第一上壳体;所述第一上壳体包括第一盖板(11)和第一固定仓(13);所述第一盖板(11)上设有两个第一通孔(111);所述第二电路板(34)固定在所述第一固定仓(13)内;所述第一盖板(11)固定在所述第一固定仓(13)顶部;所述被测资源接头(33)的数量为两个;两所述被测资源接头(33)分别位于所述两第一通孔(111)正下方。
3.如权利要求2所述的用于高度集成测试机板卡的自动检测设备,其特征在于,所述资源切换装置(3)还包括多组资源切换器(31)和资源切换控制模块(32);多组所述资源切换器(31)和资源切换控制模块(32)均电连接在所述第二电路板(34)上。
4.如权利要求3所述的用于高度集成测试机板卡的自动检测设备,其特征在于,所述外壳(1)还包括第一下壳体;所述第一下壳体包括第二固定仓(16)和隔板(15);所述自检装置(2)包括第二上壳体(21)、第二下壳体(22)和自检电路模块;所述第二上壳体(21)固定在所述第二下壳体(22)顶部;所述自检电路模块固定在所述第...
【专利技术属性】
技术研发人员:王玉君,钟程程,
申请(专利权)人:上海芯义恒科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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