【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及元器件的，尤其是涉及一种元器件插入损耗测试方法及系统。
技术介绍
1、元器件是一种电子电路、机械系统等各类物理系统中具有特定功能的基础组成单元。
2、在对元器件进行插入损耗测试时，通常需要先利用铜导线对检测装置进行损耗值的校准，通过人为将铜导线拿取至检测元器件的位置并进行插入检测，并记录损耗值进行校对，以方便元器件进行后续检测。
3、在对元器件进行插入损耗测试的过程中，人为拿取元器件或者铜导线并插入至检测装置的速度慢，导致元器件插入损耗测试的效率低。
技术实现思路
1、为了提高元器件插入损耗测试的效率，本专利技术提供一种元器件插入损耗测试方法及系统。
2、第一方面，本专利技术提供一种元器件插入损耗测试方法，采用如下的技术方案：
3、一种元器件插入损耗测试方法，包括：
4、s1：响应于预设的导线规格以校准预设的检测装置；
5、s2：通过检测装置以采集检测位置；
6、s3：采集元器件的实际位置与检
【技术保护点】
1.一种元器件插入损耗测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种元器件插入损耗测试方法，其特征在于，校准预设的检测装置的方法包括：
3.根据权利要求2所述的一种元器件插入损耗测试方法，其特征在于，得到所述裂缝参数的方法包括：
4.根据权利要求3所述的一种元器件插入损耗测试方法，其特征在于，得到所述裂缝参数的方法还包括：
5.根据权利要求2所述的一种元器件插入损耗测试方法，其特征在于，控制所述线盘装置（2）运行的方法包括：
6.根据权利要求5所述的一种元器件插入损耗测试方法，其特征在于，控制所述...
【技术特征摘要】
1.一种元器件插入损耗测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种元器件插入损耗测试方法，其特征在于，校准预设的检测装置的方法包括：
3.根据权利要求2所述的一种元器件插入损耗测试方法，其特征在于，得到所述裂缝参数的方法包括：
4.根据权利要求3所述的一种元器件插入损耗测试方法，其特征在于，得到所述裂缝参数的方法还包括：
5.根据权利要求2所述的一种元器件插入损耗测试方法，其特征在于，控制所述线盘装置（2）运行的方法包括：
【专利技术属性】
技术研发人员：糜震东，岳海，张力，顾成，
申请(专利权)人：上海克开电器有限公司，
类型：发明
国别省市：
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