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本发明涉及一种元器件插入损耗测试方法及系统，涉及元器件的技术领域，其包括：响应于预设的导线规格以校准预设的检测装置；通过检测装置以采集检测位置；采集元器件的所述实际位置与所述检测规格；控制预设的夹持装置将所述实际位置的元器件夹持移动至所述检...
该专利属于上海克开电器有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海克开电器有限公司授权不得商用。

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