【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种利用电涡流反射电阻测量温度的方法。该方法应用在电磁炉、工业中频炉/高频炉等利用涡流原理加热过程中，需要测量被加热金属体的温度，但由于使用条件的约束直接接触测量加热对象温度难度较大。本专利技术提供一种利用电涡流反射电阻进行非直接接触的温度测量方法。
技术介绍
1、为保证电磁炉、工业中频炉/高频炉等加热设备的安全使用和进行温度控制，需要对被加热金属体（简称负载）进行温度测量。目前的测温方法一般可分为直接接触测温和非直接接触测温，直接接触测温方式中测温设备与待测物体直接接触，由于电磁炉、工业中频炉/高频炉等的被加热金属炉体的结构、材料、加热对象等各不相同，造成直接接触测量温度难度较大，非接触测温通常利用测量其他物理量，再通过该物理量计算温度，达到测量温度的目的。目前主要利用电信号数据的测温、红外线测温等，红外线测温方法易受测温对象的表面氧化物和周围环境等因素的影响，电信号数据的测量方法较为方便，且精确度高、实时性高，目前使用最多是内置温度传感器，利用线圈电磁耦合原理进行测量温度，已有研究通过增加辅助线圈改变涡流激励线圈结构的...
【技术保护点】
1.一种利用电涡流反射电阻进行非直接接触的温度测量方法，其特征在于，所述方法包括：
2.权利要求1所述的一种利用电涡流反射电阻进行非直接接触的温度测量方法，其特征在于，所述反射电阻测温系统构成包括如下特征：
3.权利要求1所述的一种利用电涡流反射电阻进行非直接接触的温度测量方法，其特征在于，所述反射电阻及温度测量流程与步骤包括如下特征和步骤：
【技术特征摘要】
1.一种利用电涡流反射电阻进行非直接接触的温度测量方法，其特征在于，所述方法包括：
2.权利要求1所述的一种利用电涡流反射电阻进行非直接接触的温度测量方法，其特征在于，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：金红，黎辛晓，杨家志，程小辉，
申请(专利权)人：桂林理工大学，
类型：发明
国别省市：
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