【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于磁控溅射设备,具体涉及一种磁控溅射舱逃逸粒子捕捉罩及方法。
技术介绍
1、磁控溅射反应是物理气相沉积反应中的一种,通常在真空腔室中进行,腔室的顶部固定有靶材,靶材背面安装有磁铁,通过磁场增强束缚电子的能力,在基片和靶材之间通入氩气等气体,对靶材施加负电压,使得气体电离产生等离子体,氩离子撞击靶材产生靶材材料的原子或离子等粒子,这些粒子溅射并沉积在基片上最终形成所需的膜层,磁控溅射(pvd)是在高真空舱中利用荷能粒子轰击靶表面,使被轰击出的粒子沉积在基片的一面或是两面,溅射工艺已经成为复合铜箔、复合功能膜等材料表面处理干式方法的主要选择;
2、磁控溅射反应除用于沉积金属薄膜外,还可以用于金属氧化物(如氧化钛、氧化钽、二氧化硅等)的沉积,在沉积金属氧化物时,腔室内除溅射气体(氩气)外,还需同时通入反应气体(如,氧气);
3、然而现有技术中的磁控溅射仍存在以下不足之处:
4、1、溅射的粒子逃逸,溅射粒子附着于舱壁、阳极板、靶基座等表面,引发异常放电,导致产品穿孔、烧焦、镀层剥离;
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【技术保护点】
1.一种磁控溅射舱逃逸粒子捕捉罩,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的一种磁控溅射舱逃逸粒子捕捉罩,其特征在于:所述捕集罩体(9)主要由镍基合金构成,所述捕集罩体(9)的外侧喷涂有碳化硅陶瓷层(15),所述捕集罩体(9)的内侧喷涂有氧化铪活性层(16),所述镂空网格收集罩(17)的表面喷涂有绝缘层。
3.根据权利要求2所述的一种磁控溅射舱逃逸粒子捕捉罩,其特征在于:所述捕集罩体(9)的耐受温度为800℃,所述碳化硅陶瓷层(15)的硬度大于2000HV,所述氧化铪活性层(16)通过高温退火再生的使用次数大于50次。
4.根据权
...【技术特征摘要】
1.一种磁控溅射舱逃逸粒子捕捉罩,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的一种磁控溅射舱逃逸粒子捕捉罩,其特征在于:所述捕集罩体(9)主要由镍基合金构成,所述捕集罩体(9)的外侧喷涂有碳化硅陶瓷层(15),所述捕集罩体(9)的内侧喷涂有氧化铪活性层(16),所述镂空网格收集罩(17)的表面喷涂有绝缘层。
3.根据权利要求2所述的一种磁控溅射舱逃逸粒子捕捉罩,其特征在于:所述捕集罩体(9)的耐受温度为800℃,所述碳化硅陶瓷层(15)的硬度大于2000hv,所述氧化铪活性层(16)通过高温退火再生的使用次数大于50次。
4.根据权利要求3所述的一种磁控溅射舱逃逸粒子捕捉罩,其特征在于:所述梯度外层(91)为100目的稀疏网格,所述梯度中层(92)为200目的中等密度网格,所述梯度内层(93)为300目的致密网格。
5.根据权利要求4所述的一种磁控溅射舱逃逸粒子捕捉罩,其特征在于:所述梯度外层(91)的孔径为0.5-1mm,所述梯度中层(92)的孔径为0.3mm,所述梯度内层(93)的孔径小于0.1mm,所述倒刺型纳米沟槽(95)的宽度小于1μm,所述倒刺型纳米沟槽(95)的深度为5-10微米。
6.根据权利要求5所述的一种磁控溅射舱逃逸粒子捕捉罩,其特征在于:所述悬浮支架(...
【专利技术属性】
技术研发人员:林腾光,马小沐,张文禄,
申请(专利权)人:江西光腾微纳材料有限公司,
类型:发明
国别省市:
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