一种工程地质勘测取样装置制造方法及图纸

技术编号:45837145 阅读:18 留言:0更新日期:2025-07-15 22:43
本发明专利技术公开了一种工程地质勘测取样装置,用于解决取样装置取样效率低,不能一次获取多个试样的问题,涉及地质勘测领域,包括用于钻孔的钻筒,钻筒内设置有取样机构,取样机构包括取样盘,取样盘上设置有呈环形阵列分布的至少两个管座,管座用于安装取样管,取样管由外管和内管组成,外管一侧设置有驱动件,用于驱动内管沿其轴向移动,取样盘连接第一旋转件,且钻筒上开设有至少一个取样孔;通过设置的取样机构,旋转式取样盘与多个独立取样管的配合,钻筒一次钻入即可在不同深度触发取样管依次伸出取样孔,实现连续分层采集样品,以及在同一位置进行单次或多次取样,无需中途更换取样管或二次钻探,提高了取样效率和准确性以及多样性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及地质勘测技术,具体涉及一种工程地质勘测取样装置


技术介绍

1、工程地质勘测是工程建设中评估地质条件的关键环节,需通过分层采集土体样本以分析不同深度的地质特性,现有的采集土壤样本的装置存在不足,例如,申请公布号为cn113295458a的中国专利技术专利公开了一种地质勘测用勘测设备及勘测方法,其通过气流抽吸实现取样,但其单点取样设计需反复调整钻头位置,采样效率较低;再例如,申请公布号为cn118275159a的中国专利技术专利公开了一种地质勘测的取样装置及其取样方法,其采用嵌套筒体结构,虽能分层取样,却依赖外筒拆卸与内筒二次钻探,操作繁琐且易导致样本污染,作业连续性不足,亟需一种能够单次钻入即可连续采集多深度样本的高效取样装置,以提高采样的效率及可靠性。


技术实现思路

1、本专利技术提供一种工程地质勘测取样装置,解决现有取样装置取样效率低,不能一次获取多个试样的问题。

2、为了实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种工程地质勘测取样装置,包括用于钻孔的钻筒,所述钻筒内设置有取样本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种工程地质勘测取样装置,包括用于钻孔的钻筒(1),其特征在于,所述钻筒(1)内设置有取样机构(2),所述取样机构(2)包括取样盘(21),所述取样盘(21)上设置有呈环形阵列分布的至少两个管座(22),所述管座(22)用于安装取样管(23),所述取样管(23)由外管(231)和内管(232)组成,所述外管(231)一侧设置有驱动件(27),用于驱动内管(232)沿其轴向移动,所述取样盘(21)连接用于驱动其绕钻筒(1)中心轴线旋转的第一旋转件(24),且钻筒(1)上开设有至少一个取样孔(25),取样盘(21)旋转时所述取样管(23)能够移动至取样孔(25)处,并在驱动件(27)的驱...

【技术特征摘要】

1.一种工程地质勘测取样装置,包括用于钻孔的钻筒(1),其特征在于,所述钻筒(1)内设置有取样机构(2),所述取样机构(2)包括取样盘(21),所述取样盘(21)上设置有呈环形阵列分布的至少两个管座(22),所述管座(22)用于安装取样管(23),所述取样管(23)由外管(231)和内管(232)组成,所述外管(231)一侧设置有驱动件(27),用于驱动内管(232)沿其轴向移动,所述取样盘(21)连接用于驱动其绕钻筒(1)中心轴线旋转的第一旋转件(24),且钻筒(1)上开设有至少一个取样孔(25),取样盘(21)旋转时所述取样管(23)能够移动至取样孔(25)处,并在驱动件(27)的驱动下使内管(232)伸出至取样孔(25)外以进行取样。

2.根据权利要求1所述的一种工程地质勘测取样装置,其特征在于,所述取样孔(25)的数量为一个,所述取样盘(21)转动以使各取样管(23)能够依次移动至该取样孔(25)处。

3.根据权利要求1所述的一种工程地质勘测取样装置,其特征在于,所述取样孔(25)的数量与管座(22)的数量相同,所述取样盘(21)转动以使各取样管(23)与各取样孔(25)一一对应。

4.根据权利要求2或3所述的一种工程地质勘测取样装置,其特征在于,所述管座(22)转动安装在取样盘(21)上,管座(22)连接用于驱动其绕自身轴线进行转动的第二旋转件(26);

5.根据权利要求4所述的一种工程地质勘测取样装置,其特征在于,所述第一夹角(3)的角度为0°-60°。

6.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄振育
申请(专利权)人:桂林理工大学
类型:发明
国别省市:

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