测试设备制造技术

技术编号:45648507 阅读:19 留言:0更新日期:2025-06-27 18:52
本申请实施例提供了一种测试设备,用于对红外焦平面阵列探测器进行测试,所述测试设备包括:测试工装、遮光挡板和驱动器;测试工装的数量为多个,多个测试工装间隔设置,测试工装设有设置区,设置区用于设置红外焦平面阵列探测器,遮光挡板设有多个测试辅助区,测试辅助区包括遮光区和透光区,驱动器与遮光挡板驱动连接,以驱动遮光挡板在透光位置和遮挡位置切换;在遮光挡板位于遮挡位置的情况下,测试工装一一对应地与遮光区相对;在遮光挡板位于透光位置的情况下,测试工装一一对应地与透光区相对。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及红外焦平面阵列探测器测试,尤其涉及一种测试设备


技术介绍

1、红外焦平面阵列(infrared focal plane array,简称irfpa)探测器是目前应用最广泛的红外探测器之一。它是由一系列微小探测器组成的平面阵列,可同时检测出红外图像中各像素的温度。红外焦平面阵列探测器在许多领域中具有重要的应用。例如,红外焦平面阵列探测器可应用于安防、医疗、车辆等领域。在使用红外焦平面阵列探测器的情况下,需要精确地了解红外焦平面阵列探测器参数信息,才能将红外焦平面阵列探测器的最大性能发挥出来。在相关技术中,测试设备单次只能对一个红外焦平面阵列探测器进行测试,这样,相关技术中的测试设备存在测试效率不高的问题。


技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种测试设备,以解决如何提升测试设备的测试效率的问题。

2、本申请实施例提供的测试设备用于对红外焦平面阵列探测器进行测试,所述测试设备包括:测试工装、遮光挡板和驱动器;所述测试工装的数量为多个,多个所述测试工装间隔设置,所述测试工装设有设置区,所述设本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种测试设备,用于对红外焦平面阵列探测器(2)进行测试,其特征在于,所述测试设备包括:测试工装(10)、遮光挡板(20)和驱动器(30);

2.根据权利要求1所述的测试设备,其特征在于,所述测试工装(10)还包括探测器接口板(101),所述探测器接口板(101)用于与所述红外焦平面阵列探测器(2)电连接,所述探测器接口板(101)用于为所述红外焦平面阵列探测器(2)供电。

3.根据权利要求2所述的测试设备,其特征在于,所述测试工装(10)还包括数据采集器(102),所述数据采集器(102)与所述探测器接口板(101)连接,所述数据采集器(102)用于经所述探测...

【技术特征摘要】

1.一种测试设备,用于对红外焦平面阵列探测器(2)进行测试,其特征在于,所述测试设备包括:测试工装(10)、遮光挡板(20)和驱动器(30);

2.根据权利要求1所述的测试设备,其特征在于,所述测试工装(10)还包括探测器接口板(101),所述探测器接口板(101)用于与所述红外焦平面阵列探测器(2)电连接,所述探测器接口板(101)用于为所述红外焦平面阵列探测器(2)供电。

3.根据权利要求2所述的测试设备,其特征在于,所述测试工装(10)还包括数据采集器(102),所述数据采集器(102)与所述探测器接口板(101)连接,所述数据采集器(102)用于经所述探测器接口板(101)接收所述红外焦平面阵列探测器(2)产生的数据。

4.根据权利要求3所述的测试设备,其特征在于,所述测试设备还包括网络交换机(41)和上位机(42),各所述数据采集器(102)及所述上位机(42)均与所述网络交换机(41)通信连接。

5.根据权利要求1所述的测试设备,其特征在于,所述测试工装(10)包括光学镜头(11),所述遮光挡板(20)位于所述光学镜头(11)的背离所述设置区的一侧,在所述遮光挡板(20)位于所述透光位置的情况下,所述光学镜头(11)一一对应地与所述透光区(22)相对。

6.根据权利要求5所述的测试...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈传亮李亦能王保国刘俊张志光
申请(专利权)人:杭州海康微影传感科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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