【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电路产品测试，具体为一种集成电路产品测试装置及其方法。
技术介绍
1、在现代电子工业中，集成电路作为信息处理和传输的核心元件，被广泛应用于各种电子设备中。随着集成电路技术的不断发展和集成度的提高，产品的测试与验证变得愈加复杂。传统的集成电路测试方法往往依赖于专用测试设备，测试过程不仅耗时长，而且容易受到人为操作和环境因素的影响，导致测试结果的准确性和可靠性受到限制。
2、现有的测试装置通常存在以下几方面的问题：
3、首先，现有的测试流程多依赖人工操作，容易受到人为失误的影响，且难以满足大规模生产对自动化的需求，限制了生产效率和产出的能力。
4、其次现有测试装置通常针对特定类型的集成电路设计，缺乏对不同尺寸电路产品的适应性，增加了开发和测试成本。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种集成电路产品测试装置及其方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种集成电路产品测试装置，包...
【技术保护点】
1.一种集成电路产品测试装置，包括第一传送带（1）、测试台（2）以及第二传送带（3），其特征在于：所述测试台（2）上固定安装有检测机体（4），所述检测机体（4）的下端面设置有探针（5），所述探针（5）的正下方设置有底部支撑板（19），用于对产品进行底部支撑，所述底部支撑板（19）由顶升装置驱动并在测试台（2）上进行直线上下运动，用于将产品向上顶起与探针（5）抵紧接触；
2.根据权利要求1所述的一种集成电路产品测试装置，其特征在于：所述顶升装置包括电动推缸（20），所述电动推缸（20）的端盖固定设置在置物腔（201）的底壁上，电动推缸（20）的活塞柱向外伸出...
【技术特征摘要】
1.一种集成电路产品测试装置，包括第一传送带（1）、测试台（2）以及第二传送带（3），其特征在于：所述测试台（2）上固定安装有检测机体（4），所述检测机体（4）的下端面设置有探针（5），所述探针（5）的正下方设置有底部支撑板（19），用于对产品进行底部支撑，所述底部支撑板（19）由顶升装置驱动并在测试台（2）上进行直线上下运动，用于将产品向上顶起与探针（5）抵紧接触；
2.根据权利要求1所述的一种集成电路产品测试装置，其特征在于：所述顶升装置包括电动推缸（20），所述电动推缸（20）的端盖固定设置在置物腔（201）的底壁上，电动推缸（20）的活塞柱向外伸出并固定连接底部支撑板（19）的下端面，所述底部支撑板（19）的前后两侧均固定连接有一组横向推板（18），横向推板（18）连接于联动组件。
3.根据权利要求2所述的一种集成电路产品测试装置，其特征在于：所述联动组件包括从动拨杆（14）、主动拨杆（16）以及竖向推板（17），所述竖向推板（17）限位穿插在安装板（6）上，竖向推板（17）的下端伸入置物腔（201）内并开设有容纳横向推板（18）的限位穿孔。
4.根据权利要求3所述的一种集成电路产品测试装置，其特征在于：所述竖向推板（17）的上端伸入z轴压条（13）内并固定连接有主动拨杆（16），z轴压条（13）内部开设有容纳主动拨杆（16）的驱动斜槽（15），安装板（6）上开设有容纳z轴压条（13）的矩形开槽，矩形开槽两侧均开设有l形配合槽（601），z轴压条（13）的侧壁固定连接有插接在l形配合槽（601）内的从动拨杆（14），l形配合槽（601）的横向位移与驱动斜槽（15）的横向位移相一致。
5.根据权利要求1所述的一种集成电路产品测试装置，其特征在于：所述从动组件包括一号弹簧（21）、t形推条（22）、圆柱销（23）、矩形移动座（24）、二号弹簧（26）、横向齿条（27）以及直齿轮（28），所述直齿轮（28）固定套接在旋转轴（29）上，横向齿条（27）一端啮合连接直齿轮（28），横向齿条（27）另一端伸入底部支撑板（19）内并固定...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨美红，张装，
申请(专利权)人：深圳市鸿源欣材料有限公司，
类型：发明
国别省市：
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