一种存储测试装置及其测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种存储测试装置及其测试方法，装置包括：控制模块；验证运行芯片，与控制模块和被测设备电性连接，验证运行芯片根据控制模块提供的配置信息，获取被测设备的测试数据；硬件监控模块，在被测设备的测试进程中，同步采集和校验被测设备的工作信号；分析单元，集成在硬件监控模块中或控制模块中，并抓取工作信号中的异常信号，在出现异常信号时，控制模块冻结芯片状态并锁定被测设备的现场数据，且控制模块解析现场数据和测试数据后，生成异常分析链路；故障定位单元，集成在控制模块中，根据异常分析链路，获取被测设备的异常位置；更新对硬件监控模块的配置信息，循环测试直到完成对被测设备的全场景全功能覆盖测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及存储测试，特别涉及一种存储测试装置及其测试方法。

技术介绍

1、emmc（embedded multi media card）是mmc协会订立、主要针对手机或平板电脑等产品的内嵌式存储器标准规格。随着emmc存储芯片在电视机、机顶盒、平板电脑或手机等终端产品的广泛应用，对emmc存储芯片的性能及可靠性要求越来越高，其中最重要的是确保存储在emmc中的数据稳定可靠。

2、在芯片的设计过程中，检测芯片存在的潜在问题是保证芯片质量的核心步骤。当前验证工作面临两大挑战，即如何全面排查隐患，又如何提升检测效率。芯片验证依赖现场可编程逻辑门阵列（field programmable gate array，fpga）芯片。fpga芯片的运行速度较慢，且存储空间不足，难以完整记录芯片运行时的所有信号波形。一旦发现问题，难以快速定位问题根源，而重现问题耗时过长。并且芯片验证的调试手段单一，调试方式缺乏灵活触发条件，难以多维度分析问题。如嵌入式存储卡型系统级芯片等复杂系统的验证测试中，多模块协同验证效率低下。这些问题都导致验证无法满足emmc存储芯片本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种存储测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述存储测试装置包括配置模块，所述配置模块与所述控制模块电性连接，并接收所述控制模块发送的配置参数，在所述被测设备的测试进程中，所述配置设备根据所述配置参数调整所述被测设备启用的测试接口组合，其中所述被测设备通过所述测试接口组合与所述硬件监控模块电性连接，并对所述硬件监控模块发送所述工作信号。

3.根据权利要求2所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述硬件监控模块包括：

4.根据权利要求3所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述硬件监控模块包括：

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【技术特征摘要】

1.一种存储测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述存储测试装置包括配置模块，所述配置模块与所述控制模块电性连接，并接收所述控制模块发送的配置参数，在所述被测设备的测试进程中，所述配置设备根据所述配置参数调整所述被测设备启用的测试接口组合，其中所述被测设备通过所述测试接口组合与所述硬件监控模块电性连接，并对所述硬件监控模块发送所述工作信号。

3.根据权利要求2所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述硬件监控模块包括：

4.根据权利要求3所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述硬件监控模块包括：

5.根据权利要求4所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述硬件监控模块包括：<...

【专利技术属性】
技术研发人员：余玉，许展榕，
申请(专利权)人：合肥康芯威存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：

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