【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及存储测试，特别涉及一种存储测试装置及其测试方法。
技术介绍
1、emmc（embedded multi media card）是mmc协会订立、主要针对手机或平板电脑等产品的内嵌式存储器标准规格。随着emmc存储芯片在电视机、机顶盒、平板电脑或手机等终端产品的广泛应用，对emmc存储芯片的性能及可靠性要求越来越高，其中最重要的是确保存储在emmc中的数据稳定可靠。
2、在芯片的设计过程中，检测芯片存在的潜在问题是保证芯片质量的核心步骤。当前验证工作面临两大挑战，即如何全面排查隐患，又如何提升检测效率。芯片验证依赖现场可编程逻辑门阵列（field programmable gate array，fpga）芯片。fpga芯片的运行速度较慢，且存储空间不足，难以完整记录芯片运行时的所有信号波形。一旦发现问题，难以快速定位问题根源，而重现问题耗时过长。并且芯片验证的调试手段单一，调试方式缺乏灵活触发条件，难以多维度分析问题。如嵌入式存储卡型系统级芯片等复杂系统的验证测试中，多模块协同验证效率低下。这些问题都导致验证无法满足emmc存储芯片设计的时效性需求。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种存储测试装置及其测试方法，支持快速且全面地帮助完成芯片设计验证，并提升验证分析效率和覆盖度。
2、为解决上述技术问题，本专利技术是通过以下技术方案实现的：
3、本专利技术提供了一种存储测试装置，包括：
4、控制模块；
6、硬件监控模块，与所述验证运行芯片和所述被测设备电性连接，并在所述被测设备的测试进程中，同步采集和校验被测设备的工作信号；
7、分析单元，集成在所述硬件监控模块中或所述控制模块中，并抓取所述工作信号中的异常信号，在出现所述异常信号时，所述控制模块冻结芯片状态并锁定所述被测设备的现场数据，且所述控制模块解析所述现场数据和所述测试数据后，生成异常分析链路；以及
8、故障定位单元，集成在所述控制模块中，根据所述异常分析链路，获取所述被测设备的异常位置；
9、其中，更新对所述硬件监控模块的配置信息，并循环测试，直到完成对被测设备的全场景全功能覆盖测试。
10、在本专利技术一实施例中，所述存储测试装置包括配置模块，所述配置模块与所述控制模块电性连接，并接收所述控制模块发送的配置参数，在所述被测设备的测试进程中，所述配置设备根据所述配置参数调整所述被测设备启用的测试接口组合，其中所述被测设备通过所述测试接口组合与所述硬件监控模块电性连接，并对所述硬件监控模块发送所述工作信号。
11、在本专利技术一实施例中，所述硬件监控模块包括：
12、信号筛选单元，与所述测试接口电性连接，并选取所述验证焦点对应的所述工作信号；以及
13、采样设置单元，根据所述验证焦点的工作频率，设置对所述工作信号的采样频率。
14、在本专利技术一实施例中，所述硬件监控模块包括：
15、逻辑处理单元，电性连接于所述采样设置单元，并获取多个所述工作信号的波形逻辑关系；
16、片段截取单元，电性连接于所述采样设置单元，并获取待校验的波段时间；以及
17、数据校验单元，电性连接于所述逻辑处理单元、所述片段截取单元和所述采样设置单元，根据所述波段时间和所述波形逻辑关系，获取待分析信号信息，并所述待分析信号信息中加入校验位。
18、在本专利技术一实施例中，所述硬件监控模块包括：
19、数据压缩单元，与所述数据校验单元电性连接，当所述工作信号为正常信号，所述数据压缩单元压缩所述待分析信号信息，并输出数据压缩包；
20、异常预警单元，与所述数据校验单元和所述控制模块电性连接，当所述工作信号为正常信号，所述异常预警单元输出异常预警信息至所述控制模块中。
21、在本专利技术一实施例中，所述控制模块包括：
22、追踪单元，在所述分析单元抓取到异常信号时，所述追踪单元根据问题发生的上下文信息，生成针对异常信号的异常分析链路；
23、故障定位单元，遍历查询所述异常分析链路的全部节点，定位所述被测设备的故障对象，作为所述被测设备的异常位置；以及
24、报告生成单元，根据对所述异常信号的分析信息生成测试记录报告，其中所述测试记录报告的信息包括测试结果、问题日志、信号波形、时间点。
25、在本专利技术一实施例中，所述存储测试装置包括测试子板和主机，其中主机和测试子板电性连接，在对所述被测设备的测试进程中，所述验证运行芯片、所述被测设备和所述硬件监控模块集成在同一个测试子板上。
26、在本专利技术一实施例中，所述存储测试装置包括：
27、闪存，与所述验证运行芯片电性连接，且所述配置文件和所述测试固件存储在所述闪存中；
28、第一内存，与所述验证运行芯片电性连接，并存储测试进程中产生的测试变量和测试数据；以及
29、第二内存，与所述硬件监控模块电性连接，并接收所述硬件监控模块的数据压缩包，其中所述数据压缩包中的存储信息包括所述工作信号的波形信息和时序信息。
30、本专利技术提供了一种存储测试方法，基于如上所述的一种存储测试装置，包括以下步骤：
31、初始化验证运行芯片；
32、配置硬件监控模块，选定被测设备的验证焦点，并获取所述验证焦点的测试数据；
33、在被测设备的测试进程中，硬件监控模块同步采集并校验被测设备的工作信号；
34、在检测到所述工作信号异常时，冻结芯片状态并锁定所述被测设备的现场数据；
35、在解析所述现场数据和所述测试数据后，生成异常分析链路，获取所述被测设备的异常位置；以及
36、根据验证测试的实时覆盖度和所述被测设备的测试结果，调整硬件监控资源，并循环执行测试组合，直到完成对被测设备的全场景全功能覆盖测试。
37、在本专利技术一实施例中，在配置所述硬件监控模块的步骤中，设置跨模块触发逻辑链路、多条件组合触发规则和动态适配工作频率。
38、如上所述，本专利技术提供了一种存储测试装置及其测试方法，能够提升验证的覆盖度，加速问题分析流程，提升验证的完整性，并可以生成各种类型的触发条件，能够抓取出现问题时的各种模块的运行状态，提高模块之间协同调试细分的能力。具体的，本专利技术提供的存储测试装置及其测试方法，能够优化fpga的资源分配，实现对芯片运行时信号的全程监控和任意时刻状态抓取，并支持设置多条件触发机制，还能还原问题现场，显著提升调试效率。
39、当然，实施本专利技术的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。
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1.一种存储测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述存储测试装置包括配置模块，所述配置模块与所述控制模块电性连接，并接收所述控制模块发送的配置参数，在所述被测设备的测试进程中，所述配置设备根据所述配置参数调整所述被测设备启用的测试接口组合，其中所述被测设备通过所述测试接口组合与所述硬件监控模块电性连接，并对所述硬件监控模块发送所述工作信号。
3.根据权利要求2所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述硬件监控模块包括：
4.根据权利要求3所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述硬件监控模块包括：
5.根据权利要求4所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述硬件监控模块包括：
6.根据权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述控制模块包括：
7.根据权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述存储测试装置包括测试子板和主机，其中主机和测试子板电性连接，在对所述被测设备的测试进程中，所述验证运行芯片、所述被测设备和所述硬件监控模块集成在同一个测试子板上。<...
【技术特征摘要】
1.一种存储测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述存储测试装置包括配置模块，所述配置模块与所述控制模块电性连接，并接收所述控制模块发送的配置参数，在所述被测设备的测试进程中，所述配置设备根据所述配置参数调整所述被测设备启用的测试接口组合，其中所述被测设备通过所述测试接口组合与所述硬件监控模块电性连接，并对所述硬件监控模块发送所述工作信号。
3.根据权利要求2所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述硬件监控模块包括：
4.根据权利要求3所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述硬件监控模块包括：
5.根据权利要求4所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述硬件监控模块包括：<...
【专利技术属性】
技术研发人员：余玉，许展榕，
申请(专利权)人：合肥康芯威存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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