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本发明提供了一种存储测试装置及其测试方法，装置包括：控制模块；验证运行芯片，与控制模块和被测设备电性连接，验证运行芯片根据控制模块提供的配置信息，获取被测设备的测试数据；硬件监控模块，在被测设备的测试进程中，同步采集和校验被测设备的工作信号...
该专利属于合肥康芯威存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥康芯威存储技术有限公司授权不得商用。

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