一种轴承套圈内径测量仪及测量方法技术

本发明专利技术涉及轴承套圈测量技术领域，具体为一种轴承套圈内径测量仪及测量方法，包括：L形的底座，所述底座水平段上端面左右滑动设置有移动架，移动架的左端面固定设置有矩形板，矩形板与移动架之间设置有测量机构。本发明专利技术首先通过激光测距设备中的激光发射器发射激光、并由激光接收器进行接收，最终得出该两点之间的距离，该距离加上两倍固定块至对应滚珠的距离即得到该测量点的所需内径值，通过滚珠与套圈内壁之间的点接触减小测量结果的误差，其次通过等距组在横移块右移的过程中，完成对套圈内径的从左至右的多次测量过程，且通过转动转动板和套圈，使得外圈杆与不同位置的锁定孔进行配合，以此实现对套圈内壁不同位置处进行多点内径测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及轴承套圈测量，具体为一种轴承套圈内径测量仪及测量方法。

技术介绍

1、大型轴承套圈是用于制造大型轴承的关键部件，通常用于重载和高精度的机械系统中，轴承套圈内径的精确测量对于保证轴承的可靠性和使用寿命至关重要，精准的大型轴承套圈内径尺寸可以提高大型轴承的装配精度度、保证运行性能以及延长使用寿命。

2、目前大型轴承套圈均是采用激光测距设备进行测量，激光测距设备采用非接触测量方式，不会与轴承套圈产生任何物理接触，避免因接触造成的损伤或变形，同时激光测距设备是可以达到亚微米级别的测量精度，测量尺寸精度高，测量速度快，操作简单。

3、但是目前大型轴承套圈（以下简称套圈）的内径测量过程中还存在以下缺陷：在对套圈内径进行测量时通常采用单点测量方式，该种测量方式产生的结果存在偶然性，不足以反映真实实际数据；其次在内径测量过程中，激光测距设备需要沿套圈的轴线进行移动，但实际移动过程中，仅使得激光测距设备沿指定方方向移动，而未对激光测距设备移动过程进行限位导引，故激光测距设备的运行直线度和测量垂直度不能保证，继而提高了测量误差的存在概率，本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种轴承套圈内径测量仪，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种轴承套圈内径测量仪，其特征在于：所述夹持单元还包括滑动柱，所述转动板中心左右滑动且贯穿安装有轴线左右延伸的滑动柱，滑动柱的左端面固定设置有中心块，中心块与所有滑动块之间均共同铰接设置有铰接条，底座竖直段左端面与中心块之间共同固定设置有套设在滑动柱上的弹簧二。

3.根据权利要求1所述的一种轴承套圈内径测量仪，其特征在于：所述夹持单元还包括基准块，多个所述夹持板的内弧面均固定设置有基准块，且所有基准块关于转动板的轴线周向分布，基准块为Z形，且基准块右侧的竖直段紧贴套圈。p>

4.根据权...

【技术特征摘要】

1.一种轴承套圈内径测量仪，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种轴承套圈内径测量仪，其特征在于：所述夹持单元还包括滑动柱，所述转动板中心左右滑动且贯穿安装有轴线左右延伸的滑动柱，滑动柱的左端面固定设置有中心块，中心块与所有滑动块之间均共同铰接设置有铰接条，底座竖直段左端面与中心块之间共同固定设置有套设在滑动柱上的弹簧二。

3.根据权利要求1所述的一种轴承套圈内径测量仪，其特征在于：所述夹持单元还包括基准块，多个所述夹持板的内弧面均固定设置有基准块，且所有基准块关于转动板的轴线周向分布，基准块为z形，且基准块右侧的竖直段紧贴套圈。

4.根据权利要求1所述的一种轴承套圈内径测量仪，其特征在于：所述测量机构还包括对接板，所述转动板的右端面转动设置有轴线与转动板轴线共线的对接板，滑动柱滑动贯穿对接板，对接板的右端面固定设置有两个上下分布且轴线从左至右延伸的对接柱，矩形板的左端面开设有与对接柱一一对应的对接槽。

5.根据权利要求2所述的一种轴承套圈内径测量仪，其特征在于：所述测量机构还包括外圈杆，所述移动架上左右滑动且贯穿安装有两个上下对称且轴线左右延伸的外圈杆，外圈杆位于夹持板远离转动板中心的一侧，转动板上左右贯穿开设有多个与夹持板一一对应的锁定孔，且外圈杆贯穿对应的锁定孔。

6.根据权利要求5所述的一种轴承套圈内径测量仪，其特征在于：所述外圈杆上通过连接条固定套设有位于移动架左侧的抵紧块，两个抵紧块上下对称，抵紧块为z形，且抵紧块的左侧竖直段与套圈的右端面紧贴。

7.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈坚，华尧中，
申请(专利权)人：浙江中精轴承有限公司，
类型：发明
国别省市：