【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及炉温测量，具体地涉及一种炉温均匀性测量装置。
技术介绍
1、目前，不同类型的热处理炉均需要按使用周期进行炉温均匀性测量，测温时需要根据热处理炉的类型确定有效加热区以及测定周期，以及测温点数。此外，在热处理炉大修或改造、改变有效加热区位置和扩大体积、扩大工作温度范围等条件改变时，也需要重新对炉温均匀性进行测量。
2、然而，现有热处理炉温均匀性测量装置通常采用简易测温架，大小固定，对不同热处理炉进行测温时需要投入多个测温装置，测温后，测温装置则闲置，占用场地空间。同时，在炉温均匀性测量过程中，由于高温加热，测温装置容易发生变形、氧化，影响测温准确性，且高温氧化后，常用测温装置为一次性装置，造成资源浪费严重。再者，热处理炉在高温下重复使用以及维修过程中，为确保一定空间的有效加热区间，不进行大修，原有热处理测温装置只能确定热处理炉的有效加热区间是否满足要求，不能反向确定具体的有效加热区间，本专利技术针对以上问题提出了一种新的解决方案。
技术实现思路
1、本专利技术为了克服上述缺点中的至少一个，提供一种炉温均匀性测量装置。本专利技术的目的可以通过采用如下技术方案达到：
2、本专利技术提供的一种炉温均匀性测量装置，包括：
3、测温组件，所述测温组件包括三棱柱形的支撑架，所述支撑架上设有测温元件；
4、延长支架，所述延长支架活动连接于所述支撑架，所述延长支架包括延长杆，至少部分所述延长杆凸出于所述支撑架，所述延长杆上设有测温元件。p>
5、在一种可实施方式中，所述测温组件的数量为一个或至少两个。
6、在一种可实施方式中，当所述测温组件的数量为至少两个时，相邻所述测温组件之间为可拆卸连接；
7、所述支撑架的顶部设有第一接头，所述支撑架的尾部设有与所述第一接头相适配的第二接头，相邻两个所述测温组件的第一接头与第二接头之间通过连接销相连接。
8、在一种可实施方式中，所述支撑架包括：
9、至少两个三角框架，所述测温元件设置在所述三角框架上；
10、连接杆，若干所述三角框架之间通过所述连接杆相连接。
11、在一种可实施方式中，所述支撑架包括：
12、支撑杆，所述支撑杆设置于所述三角框架的空腔内，且与所述三角框架的尖角处相连接。
13、在一种可实施方式中，所述测温组件还包括：
14、至少两个套环，所述套环设置在所述三角框架上，所述套环的轴线沿所连接的杆件长度方向设置，所述延长杆穿设于所述套环；
15、挂杆，所述挂杆的第一端与所述延长杆凸出于所述支撑架的一端相连接，所述挂杆的第二端与所述支撑架相连接，所述挂杆与所述延长杆方向不同。
16、在一种可实施方式中，所述测温组件还包括：
17、定位杆，所述定位杆用于安装所述测温元件；和/或，
18、限位杆，所述限位杆用于分隔挂装在所述三角框架上的工件。
19、在一种可实施方式中，所述炉温均匀性测量装置还包括：
20、吊装件，所述吊装件与所述测温组件相连接，用于吊装所述测温组件。
21、在一种可实施方式中，所述吊装件包括：
22、吊装架，所述吊装架为三脚架形状；
23、吊耳，所述吊耳设置在所述吊装架上用于吊装；
24、连接头，所述连接头设置在所述吊装架的支腿上用于连接所述测温组件。
25、在一种可实施方式中，所述炉温均匀性测量装置还包括：
26、底座，所述底座连接于所述测温组件用于形成支撑。
27、本专利技术的有益技术效果：根据本公开内容，该炉温均匀性测量装置通过设置支撑架用于安装测温元件，三棱柱形状的支撑架结构稳定性好，不易变形，减少了由于变形对测量结果的影响，同时支撑架能够叠加使用调节整体的高度，还能够通过延长杆调节宽度，达到调节横向和纵向测温范围的作用，能够满足不同场景的测温需要，能够重复使用，降低了成本，还可以用于工件的热处理，提高了利用率。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种炉温均匀性测量装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的炉温均匀性测量装置，其特征在于，所述测温组件(2)的数量为一个或至少两个。
3.根据权利要求1所述的炉温均匀性测量装置，其特征在于，
4.根据权利要求1所述的炉温均匀性测量装置，其特征在于，所述支撑架(21)包括：
5.根据权利要求4所述的炉温均匀性测量装置，其特征在于，所述支撑架(21)包括：
6.根据权利要求4所述的炉温均匀性测量装置，其特征在于，所述测温组件(2)还包括：
7.根据权利要求6所述的炉温均匀性测量装置，其特征在于，所述测温组件(2)还包括：
8.根据权利要求1-7任意一项所述的炉温均匀性测量装置，其特征在于，所述炉温均匀性测量装置还包括：
9.根据权利要求8所述的炉温均匀性测量装置，其特征在于，所述吊装件(1)包括：
10.根据权利要求1所述的炉温均匀性测量装置，其特征在于，所述炉温均匀性测量装置还包括：
【技术特征摘要】
1.一种炉温均匀性测量装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的炉温均匀性测量装置，其特征在于，所述测温组件(2)的数量为一个或至少两个。
3.根据权利要求1所述的炉温均匀性测量装置，其特征在于，
4.根据权利要求1所述的炉温均匀性测量装置，其特征在于，所述支撑架(21)包括：
5.根据权利要求4所述的炉温均匀性测量装置，其特征在于，所述支撑架(21)包括：
6.根据权利要求4所述的炉温...
【专利技术属性】
技术研发人员：王飞宇，邹鹏，王全振，张尔康，刘业超，蒋申柱，陈炜，于广义，王思倩，曲德毅，于晃，邵帅，刘爽庆，
申请(专利权)人：沈阳透平机械股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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