【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及将用于半导体设备等的sic单晶衬底与sic多晶衬底进行接合,由将sic单晶薄膜从sic单晶衬底的表面分离而制作的sic单晶薄膜与sic多晶衬底构成的sic接合衬底的,尤其涉及sic单晶转印用复合衬底、sic单晶转印用复合衬底的制造方法、以及sic接合衬底的制造方法。
技术介绍
1、碳化硅(以下,有时称为“sic”。)若与硅(以下,有时称为“si”)比较,因为具有3倍左右的大的带隙(4h-sic为3.8ev左右,6h-sic为3.1ev左右,对应的si为1.1ev左右)和高的导热率(sic为5w/cm·k左右,对应的si为1.5w/cm·k左右),所以近年来开始使用单晶sic作为功率器件用途的衬底材料。
2、通常,sic单晶衬底通过被称为升华再结晶法(改良雷利法)的气相法制作(例如参照非专利文献1),加工为所希望的直径以及厚度。
3、改良雷利法是如下的制造方法:使sic的固体原料(通常为粉末)在高温(2,400℃以上)下加热、升华,在惰性气体气氛中升华后的硅原子与碳原子作为2,400℃的蒸气通过扩散而
...【技术保护点】
1.一种SiC单晶转印用复合衬底,其中,
2.根据权利要求1所述的SiC单晶转印用复合衬底,其中,所述第一SiC多晶衬底为晶片形状,所述第一SiC多晶衬底的圆周的轮廓线的最大值、与所述SiC单晶衬底和所述第一SiC多晶衬底的接合面的圆周的轮廓线相同。
3.一种SiC单晶转印用复合衬底的制造方法,其是权利要求1所述的SiC单晶转印用复合衬底的制造方法,其中,
4.根据权利要求3所述的SiC单晶转印用复合衬底的制造方法,其中,所述SiC单晶转印用复合衬底的制造方法包含侧面研磨工序,在所述侧面研磨工序中,在所述第一常温接合工序后,将所述第
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种sic单晶转印用复合衬底,其中,
2.根据权利要求1所述的sic单晶转印用复合衬底,其中,所述第一sic多晶衬底为晶片形状,所述第一sic多晶衬底的圆周的轮廓线的最大值、与所述sic单晶衬底和所述第一sic多晶衬底的接合面的圆周的轮廓线相同。
3.一种sic单晶转印用复合衬底的制造方法,其是权利要求1所述的sic单晶转印用复合衬底的制造方法,其中,
4.根据权利要求3所述的sic单晶转印用...
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