【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及发光二极管半导体,具体涉及一种具有光散射结构的深紫外发光二极管。
技术介绍
1、基于algan基深紫外发光二极管(led)通常以p-gan材料作为p型欧姆接触层,但由于p-gan对深紫外波段光吸收,所以通常采用倒装芯片结构,促使产生光子从多量子阱有源区依次经n-型半导体传输层、缓冲层、衬底从器件底部射出,减少光吸收,但在光子传播过程中,形成光波导,致使部分固定角度的光难以射出,也会在一定程度上限制光提取效率的提升。目前,制作微/纳米级结构来增加紫外led的光提取效率是最为常用的办法。
2、当前技术中提出采用纳米球或者阳极氧化铝孔做掩膜对n-型半导体传输层进行刻蚀,粗化mesa与n电极之间的ga面n-型半导体传输层(专利号:cn112885933 b),该方法虽然一定程度提高了光提取效率,但由于常规干法刻蚀的微纳结构深度(与水平方向垂直)仅为2~500nm,未形成贯穿n-型半导体传输孔隙,则依然会有大量的光子沿着n-型半导体传输到n电极,然后被吸收。
3、因此基于本课题组前期对nalgan刻蚀的散射结
...【技术保护点】
1.一种具有光散射结构的深紫外发光二极管,其特征为该发光二极管的组成包括:沿着芯片外延生长方向依次为衬底层、缓冲层、N-型半导体传输层;
2.如权利要求1所述的具有光散射结构的深紫外发光二极管,其特征为所述N-型半导体传输层的材质为AlXGa1-XN,其中,Al组分X=45~55%,Si掺杂浓度(1.0E17~9.9E19)/cm-3,N-型半导体传输层厚度1~5μm。
3.如权利要求1所述的具有光散射结构的深紫外发光二极管,其特征为N-型半导体传输层的下部分厚度1~3μm;上部分厚度0.1~3μm;梯台的棱长与底边夹角为15~90°;梯台底部
...【技术特征摘要】
1.一种具有光散射结构的深紫外发光二极管,其特征为该发光二极管的组成包括:沿着芯片外延生长方向依次为衬底层、缓冲层、n-型半导体传输层;
2.如权利要求1所述的具有光散射结构的深紫外发光二极管,其特征为所述n-型半导体传输层的材质为alxga1-xn,其中,al组分x=45~55%,si掺杂浓度(1.0e17~9.9e19)/cm-3,n-型半导体传输层厚度1~5μm。
3.如权利要求1所述的具有光散射结构的深紫外发光二极管,其特征为n-型半导体传输层的下部分厚度1~3μm;上部分厚度0.1~3μm;梯台的棱长与底边夹角为15...
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