【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于射频mems无源器件,更具体地说,是涉及一种mems滤波隔离耦合器及加工方法。
技术介绍
1、当前通讯设备向着小型化、大功效,抗干扰、节能增效等方向发展,对收发组件中的射频器件提出了集成化、高功率、高性能、全电磁屏蔽的迫切需求。射频器件的小型化、集成化可以有效减小通讯设备的复杂性和体积,提高设备的集成度和便携性;射频器件的高功率、高性能直接提升收发组件的功率和效率,有助于通讯设备的覆盖范围和通信质量;射频器件的全电磁屏蔽可以减少信号泄露和外部噪声干扰的介入,保护通讯设备免受外界干扰,确保射频信号传输的稳定,从而提升整个射频系统的可靠性。
2、隔离器是用于通讯设备中的发射组件,起着单向传输、吸收反射保护功率放大器、改善后级输出特性的作用;耦合器在发射组件中耦合发射功率,起到功率监测和信号分析的作用;滤波器作用保留特定频段内的信号、将特定频率外不需要的信号滤除,提高通讯系统的信噪比。
3、传统情况下,收发组件通过金丝键合、芯片粘接、焊接等微组装工艺将上述多种射频器件装配在一起。优点是工艺简单,缺点是装配
...【技术保护点】
1.MEMS滤波隔离耦合器,其特征在于,包括金属载体(3)、硅芯片和磁钢(5);所述硅芯片包括叠加的下层硅晶圆(2)和上层硅晶圆(1),所述下层硅晶圆(2)下表面与所述金属载体(3)连接,所述下层硅晶圆(2)的下端开设有开口朝下的安装槽(12),所述安装槽(12)用于容纳旋磁铁氧体(4);所述下层硅晶圆(2)和所述上层硅晶圆(1)纵向连接并在两者之间形成金属电路(9),所述金属电路(9)包括滤波器功能电路(15)、隔离器功能电路(17)及耦合器功能电路(18);所述下层硅晶圆(2)和所述上层硅晶圆(1)均具有沿厚度方向的金属化过孔,所述金属化过孔用于连接所述金属电路(
...【技术特征摘要】
1.mems滤波隔离耦合器,其特征在于,包括金属载体(3)、硅芯片和磁钢(5);所述硅芯片包括叠加的下层硅晶圆(2)和上层硅晶圆(1),所述下层硅晶圆(2)下表面与所述金属载体(3)连接,所述下层硅晶圆(2)的下端开设有开口朝下的安装槽(12),所述安装槽(12)用于容纳旋磁铁氧体(4);所述下层硅晶圆(2)和所述上层硅晶圆(1)纵向连接并在两者之间形成金属电路(9),所述金属电路(9)包括滤波器功能电路(15)、隔离器功能电路(17)及耦合器功能电路(18);所述下层硅晶圆(2)和所述上层硅晶圆(1)均具有沿厚度方向的金属化过孔,所述金属化过孔用于连接所述金属电路(9);所述磁钢(5)粘接在所述上层硅晶圆(1)的上端面。
2.如权利要求1所述的mems滤波隔离耦合器,其特征在于,所述下层硅晶圆(2)的下表面具有下端金属地图形(11),所述金属地图形用于连接所述金属载体(3);
3.如权利要求2所述的mems滤波隔离耦合器,其特征在于,所述金属电路(9)连接有薄膜电阻(16),所述薄膜电阻(16)位于所述下层硅晶圆(2)和所述上层硅晶圆(1)之间。
4.如权利要求2所述的mems滤波隔离耦合器,其特征在于,所述金属化过孔包括贯穿所述下层硅晶圆(2)的下...
【专利技术属性】
技术研发人员:翟晓飞,汪蔚,吴国安,周嘉,侯凯强,刘博达,田松杰,高伟钊,李志东,
申请(专利权)人:河北美泰电子科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。