【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于电子设计自动化(electronic design automation,eda),特别的说,涉及一种eda中基于随机行走算法的寄生参数提取方法。
技术介绍
1、随着集成电路工艺的不断进步,特征尺寸逐渐缩小,信号频率持续增高,导致寄生效应对电路性能的影响愈专利技术显。寄生电容、电阻等参数会造成信号延迟、串扰、噪声等问题,对高频电路的可靠性和性能构成威胁。尤其在深亚微米和纳米级工艺中,互连线的延迟开始主导电路速度,寄生参数成为影响芯片整体性能的关键因素。因此,快速且准确地提取这些寄生参数是集成电路设计中的重要需求。
2、常见的寄生参数提取方法,如有限元法(fem)、边界元法(bem)、矩量法(mom)等,虽然在精度上有优势,但在处理复杂几何结构、多媒质材料时存在较大局限,尤其是对于非曼哈顿结构的效率较低。这些方法通常需要对整个目标区域进行离散化处理,导致较大的存储和计算开销。对于大规模集成电路设计,传统方法难以适应高效率的需求。随机行走法具有理论精度高、无离散误差的特点,能够高度并行化计算,特别适合处理多节点、大
...【技术保护点】
1.一种EDA中基于随机行走算法的寄生参数提取方法,用于集成电路中复杂几何结构和多媒质环境下的寄生电容和寄生电阻参数的高效提取,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的EDA中基于随机行走算法的寄生参数提取方法,其特征在于,步骤(1)中,采用局部加密网格,在互连寄生效应强烈的区域采用加密网格。
3.根据权利要求1所述的EDA中基于随机行走算法的寄生参数提取方法,其特征在于,步骤(2)中,离散的网格上设置Dirichlet边界条件,边界条件中将已知电势节点作为吸收态。
4.根据权利要求1所述的EDA中基于随机行走算法的寄生
...【技术特征摘要】
1.一种eda中基于随机行走算法的寄生参数提取方法,用于集成电路中复杂几何结构和多媒质环境下的寄生电容和寄生电阻参数的高效提取,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的eda中基于随机行走算法的寄生参数提取方法,其特征在于,步骤(1)中,采用局部加密网格,在互连寄生效应强烈的区域采用加密网格。
3.根据权利要求1所述的eda中基于随机行走算法的寄生参数提取方法,其特征在于,步骤(2)中,离散的网格上设置dirichlet边界条件,边界条件中将已知电势节点作为吸收态。
4.根据权利要求1所述的eda中基于随机行走算法的寄生参数提取方法,其特征在于,步骤(3)中,根据离散外微分方法的原理,结合麦克斯韦方程组的电场描述,为每个网格节点建立电势的线性方程;这样,整个区域的电势计算被转化为求解一个线性方程组的问题,在线性方程中,每个方程的未知数对应一个节点的电势值,相邻节点的电势差表示电场强度,获得初步的电势初始分布。
5.根据权利要求4所述的eda中基于...
【专利技术属性】
技术研发人员:李小南,蒋若愚,张江江,
申请(专利权)人:上海芯轫科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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