【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电气设计自动化(electronic design automation,eda),尤其涉及一种eda中基于图形数据库(graph database,gdb)的寄生参数提取(parasiticextraction,pex)方法。
技术介绍
1、寄生参数提取(parasitic extraction,pex)是集成电路(ic)物理验证中的一个重要环节,目的是从设计版图中提取出互连结构和器件的寄生电阻(r)和寄生电容(c)参数。在深亚微米和先进工艺节点上,寄生效应具有更加重大的影响,因此,寄生效应的提取和计算已经成为现代ic设计中不可忽略的重要议题。准确提取寄生参数是后续电路仿真、时序分析和信号完整性分析的基础。
2、传统的寄生参数提取方法主要依赖几何计算,通过遍历版图数据并结合物理模型来推导寄生参数。然而,随着工艺复杂度的增加,金属互连层数增多,布局形状复杂度提高,传统的基于平面数据结构的寄生参数提取方法在效率、准确性上存在重大难题。依赖几何计算的寄生参数提取方法只是单单根据不同版图元素的相交关系,使用相对固定的
...【技术保护点】
1.一种EDA中基于图形数据库的寄生参数提取方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的寄生参数提取方法,其特征在于,步骤1)中,图形数据库文件以GDSII格式存储,图形数据库文件包含电路版图中的所有互连信息,包括不同层次的导线、器件和过孔的几何和物理属性。
3.根据权利要求1所述的寄生参数提取方法,其特征在于,步骤2)中,预处理时,首先对版图中的关键结构进行识别,在分层分割过程中,将电路版图划分为不同的层级。
4.根据权利要求1所述的寄生参数提取方法,其特征在于,步骤2)中,邻接矩阵A是|V|×|V|的方阵,其中|V
...【技术特征摘要】
1.一种eda中基于图形数据库的寄生参数提取方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的寄生参数提取方法,其特征在于,步骤1)中,图形数据库文件以gdsii格式存储,图形数据库文件包含电路版图中的所有互连信息,包括不同层次的导线、器件和过孔的几何和物理属性。
3.根据权利要求1所述的寄生参数提取方法,其特征在于,步骤2)中,预处理时,首先对版图中的关键结构进行识别,在分层分割过程中,将电路版图划分为不同的层级。
4.根据权利要求1所述的寄生参数提取方法,其特征在于,步骤2)中,邻接矩阵a是|v|×|v|的方阵,其中|v|表示电路结构中包含的节点的数量;节点包括导线端点、器件连接点;矩阵中值为1的元素表示两个节点之间存在连接,称为“边”,边的总数量|e|通过统计矩阵中非零元素的个数得到。
【专利技术属性】
技术研发人员:俞磊,张江江,李小南,
申请(专利权)人:上海芯轫科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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