一种基于微波和光纠缠的量子测距式定位装置及方法制造方法及图纸

技术编号:44500779 阅读:15 留言:0更新日期:2025-03-04 18:09
一种基于微波和光纠缠的量子测距式定位装置及方法,其在分析量子测距式定位方案的性能时,首先对量子二阶相干函数与透射系数η间的关系进行了分析,得到了不同透射系数对量子测距式定位精度柱状图,然后根据量子测距式定位中的误差特点,直接分析方案所确定的误差区域特征,得到定位误差在工作区域内的空间分布情况,并与经典几何式定位所用的定位误差场进行了对比,最后分析了方案在对目标进行动态轨迹跟踪时的性能。本发明专利技术提供的量子测距式定位方法具有较高的有效性和精确性,可作为新的定位方法应用在导航、雷达等领域。

【技术实现步骤摘要】

【】本专利技术涉及一种量子测距式定位装置方法,具体涉及一种基于微波和光纠缠的量子测距式定位装置及方法


技术介绍

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技术介绍

1、定位是研究如何有效提供目标实时位置的方法,它不仅是导航活动的一项基本任务,而且也在雷达、测绘等领域被广泛研究。尽管不同研究领域中所研究的定位系统在服务对象、方法手段以及性能表现上具有差异性,但其根本研究内涵是一致的,即如何获取目标位置信息。然而现有的量子定位方法由于自身原因,导致定位精度不够准确,鉴于此,本专利技术提供一种基于微波和光纠缠的量子测距式定位装置及方法。


技术实现思路

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技术实现思路

1、为了解决上述问题,本专利技术提供一种基于微波和光纠缠的量子测距式定位装置及方法。

2、本专利技术是通过以下技术方案实现的,提供一种基于微波和光纠缠的量子测距式定位装置,包括:

3、两个地面基站,其中每个地面基站均由两个腔电光力转换器构成,其中一个为发射端,另一个为接收端,且每个地面基站中的发射端用于制备杂化微波—光波纠缠,而接本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于微波和光纠缠的量子测距式定位装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种基于微波和光纠缠的量子测距式定位装置,其特征在于,所述发射端的腔频率失谐量设为ΔM=-ΔO=ωm,所述接收端的腔频率失谐量设为ΔM=ΔO=ωm。

3.一种基于微波和光纠缠的量子测距式定位装置方法,其特征在于,包括以下步骤:

4.根据权利要求3所述的一种基于微波和光纠缠的量子测距式定位装置方法,其特征在于,所述S4中,根据单程传输延时和微波信号在自由空间中的传播速度,求出两地面站与目标之间的距离为粗测距离,由于微波传输时延具有一定的测量误差,此处由二阶相干函数的...

【技术特征摘要】

1.一种基于微波和光纠缠的量子测距式定位装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种基于微波和光纠缠的量子测距式定位装置,其特征在于,所述发射端的腔频率失谐量设为δm=-δo=ωm,所述接收端的腔频率失谐量设为δm=δo=ωm。

3.一种基于微波和光纠缠的量子测距式定位装置方法,其特征在于,...

【专利技术属性】
技术研发人员:苗强吴德伟骆艳卜王永庆
申请(专利权)人:中国人民解放军空军工程大学
类型:发明
国别省市:

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