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一种基于微波和光纠缠的量子测距式定位装置及方法，其在分析量子测距式定位方案的性能时，首先对量子二阶相干函数与透射系数η间的关系进行了分析，得到了不同透射系数对量子测距式定位精度柱状图，然后根据量子测距式定位中的误差特点，直接分析方案所确定的...
该专利属于中国人民解放军空军工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军空军工程大学授权不得商用。

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