测温方法、装置、测温组件、可读存储介质和芯片制造方法及图纸

技术编号:44334020 阅读:14 留言:0更新日期:2025-02-18 20:43
本发明专利技术的实施例提供了一种测温方法、装置、测温组件、可读存储介质和芯片,其中,测温方法用于测温组件,测温组件包括承载板以及位于承载板一侧的电阻膜,电阻膜包括多个测温区域,每个测温区域内填充有多种电阻丝,位于同一测温区域的多种电阻丝的测温精度不同,任意两个测温区域在承载板上的投影不重叠,测温方法包括:获取位于同一测温区域的多个电阻丝的电参数;根据电参数确定对应于每个电阻丝的采集温度值;根据对应于一个测温区域的多个采集温度值确定参考温度;根据参考温度调整加热线圈的运行功率。通过本发明专利技术的方案,在加热时通过测温精度不同的电阻丝对同一测温区域进行检测,可提高检测精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测温,具体而言,涉及一种测温方法、一种测温装置、一种测温组件、一种可读存储介质和一种芯片。


技术介绍

1、目前,在电磁炉加热时,为了防止干烧情况的出现,通常会设置温度传感器对温度进行检测,现有的温度传感器的在检测时,在温度处于不同区间下,其检测精度差异较大。


技术实现思路

1、本专利技术旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。

2、有鉴于此,本专利技术第一方面的实施例提供了一种测温方法。

3、本专利技术第二方面的实施例提供了一种测温装置。

4、本专利技术第三方面的实施例提供了一种测温组件。

5、本专利技术第四方面的实施例提供了一种可读存储介质。

6、本专利技术第五方面的实施例提供了一种芯片。

7、为了实现上述目的,本专利技术第一方面的实施例提供了一种测温方法,用于测温组件,测温组件包括承载板以及位于承载板一侧的电阻膜和加热线圈,电阻膜包括多个测温区域,每个测温区域内填充有多种电阻丝,位于同一测温区域的多种电阻丝的本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种测温方法,其特征在于,用于测温组件,所述测温组件包括承载板以及位于所述承载板一侧的电阻膜和加热线圈,所述电阻膜包括多个测温区域,每个所述测温区域内填充有多种电阻丝,位于同一所述测温区域的多种电阻丝的测温精度不同,任意两个所述测温区域在所述承载板上的投影不重叠,所述测温方法包括:

2.根据权利要求1所述的测温方法,其特征在于,所述根据对应于一个所述测温区域的多个所述采集温度值确定参考温度,具体包括:

3.根据权利要求2所述的测温方法,其特征在于,同一所述测温区域内的电阻丝的数量为两个,多个所述采集温度值包括第一温度值和第二温度值,所述参考温度包括主参考温度和...

【技术特征摘要】

1.一种测温方法,其特征在于,用于测温组件,所述测温组件包括承载板以及位于所述承载板一侧的电阻膜和加热线圈,所述电阻膜包括多个测温区域,每个所述测温区域内填充有多种电阻丝,位于同一所述测温区域的多种电阻丝的测温精度不同,任意两个所述测温区域在所述承载板上的投影不重叠,所述测温方法包括:

2.根据权利要求1所述的测温方法,其特征在于,所述根据对应于一个所述测温区域的多个所述采集温度值确定参考温度,具体包括:

3.根据权利要求2所述的测温方法,其特征在于,同一所述测温区域内的电阻丝的数量为两个,多个所述采集温度值包括第一温度值和第二温度值,所述参考温度包括主参考温度和副参考温度,所述根据多个所述采集温度值与所述第一温度阈值的大小关系确定所述参考温度,具体包括:

4.根据权利要求3所述的测温方法,其特征在于,所述根据所述参考温度调整所述加热线圈的运行功率,具体包括:

5.根据权利要求1至4中任一项所述的测温方法,其特征在于,还包括:

【专利技术属性】
技术研发人员:郭景勋李小辉卢伟杰苏畅
申请(专利权)人:佛山市顺德区美的电热电器制造有限公司
类型:发明
国别省市:

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