【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体封装,具体为一种增大产品过流能力的框架结构。
技术介绍
1、目前的芯片塑封框架,基岛和封装引脚相对独立,封装引脚与封装引脚之间也是完全独立,导致大电流芯片在塑封上无法实现强大过流能力。只能依赖陶瓷封装和金属封装,而陶瓷封装和金属封装的成本又让封装无法接受。
技术实现思路
1、本技术提出一种增大产品过流能力的框架结构,采取的技术方案:
2、一种增大产品过流能力的框架结构,采用框架原料制成的若干个封装引脚(1)和承载芯片的基岛(2),若干个封装引脚(1)都布置在基岛(2)周围,按照芯片所需核电源和直流电源的要求,将基岛(2)与周围的多个封装引脚(1)合并形成承受核电源的第一焊盘结构(3),将周围的多个封装引脚(1)合并形成一个或多个用来承受芯片的vccc电源或芯片的vo输出的第二焊盘结构(4)。
3、本技术的增大产品过流能力的框架结构,采用增强焊盘结构,将基岛与封装引脚做合并,相同电源的封装引脚做合并,从而极大的增加封装上电源、地过流能力,同时也增强封装
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1.一种增大产品过流能力的框架结构,包括采用框架原料制成的承载芯片的基岛(2)和若干个封装引脚(1),其特征在于:若干个封装引脚(1)都布置在基岛(2)周围,按照芯片所需核电源和直流电源的要求,将基岛(2)与周围的多个封装引脚(1)合并形成承受核电源的第一焊盘结构(3),将周围的多个封装引脚(1)合并形成一个或多个用来承受芯片的VCCC电源或芯片的VO输出的第二焊盘结构(4)。
2.根据权利要求1所述的一种增大产品过流能力的框架结构,其特征在于:基岛(2)与周围的多个封装引脚(1)焊接一起形成第一焊盘结构(3)。
3.根据权利要求1所述的一种增
...【技术特征摘要】
1.一种增大产品过流能力的框架结构,包括采用框架原料制成的承载芯片的基岛(2)和若干个封装引脚(1),其特征在于:若干个封装引脚(1)都布置在基岛(2)周围,按照芯片所需核电源和直流电源的要求,将基岛(2)与周围的多个封装引脚(1)合并形成承受核电源的第一焊盘结构(3),将周围的多个封装引脚(1)合并形成一个或多个用来承受芯片的vccc电...
【专利技术属性】
技术研发人员:田立方,张韬,
申请(专利权)人:江苏华创微系统有限公司,
类型:新型
国别省市:
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