【技术实现步骤摘要】
本申请涉及印字检测治具的，尤其是涉及一种单颗量测印字偏移治具。
技术介绍
1、在半导体领域，基板的表面为胶体，常常需要使用镭射机在上面镭刻客户商标、型号及相关厂的产品生产信息。
2、产品镭刻后，需要对镭刻信息进行检测，以判断镭刻产品的印字是否合格。在检测时，需要将产品放到显微镜下，进行比对分析，在实际检测过程中，需要将每一个产品进行比对，导致合格品也会需要至少做一次检测，会加长检测的时长，影响效率。
技术实现思路
1、为了便于检测偏移量，提高工作效率，本申请提供一种单颗量测印字偏移治具。
2、本申请提供的一种单颗量测印字偏移治具，采用如下的技术方案：一种单颗量测印字偏移治具，包括底座，所述底座具有供待检测物嵌入的测量槽，所述底座上可拆卸连接有用于覆盖所述测量槽的透明板，所述透明板具有对应待检测物的偏移刻度线，所述测量槽的侧壁外延形成有两个延伸槽，用于取出待检测物，所述透明板具有插接于所述底座上的固定块。
3、通过采用上述技术方案，在检测前，通过测量槽将待...
【技术保护点】
1.一种单颗量测印字偏移治具，其特征在于：包括底座（100），所述底座（100）具有供待检测物嵌入的测量槽（110），所述底座（100）上可拆卸连接有用于覆盖所述测量槽（110）的透明板（111），所述透明板（111）具有对应待检测物的偏移刻度线，所述测量槽（110）的侧壁外延形成有两个延伸槽（112），用于取出待检测物，所述透明板（111）具有插接于所述底座（100）上的固定块（114）。
2.根据权利要求1所述的一种单颗量测印字偏移治具，其特征在于：所述透明板（111）与所述底座（100）在同一个边角处具有相同的缺口（113）。
3.根据权...
【技术特征摘要】
1.一种单颗量测印字偏移治具，其特征在于：包括底座（100），所述底座（100）具有供待检测物嵌入的测量槽（110），所述底座（100）上可拆卸连接有用于覆盖所述测量槽（110）的透明板（111），所述透明板（111）具有对应待检测物的偏移刻度线，所述测量槽（110）的侧壁外延形成有两个延伸槽（112），用于取出待检测物，所述透明板（111）具有插接于所述底座（100）上的固定块（114）。
2.根据权利要求1所述的一种单颗量测印字偏移治具，其特征在于：所述透明板（111）与所述底座（100）在同一个边角处具有相同的缺口（113）。
3.根据权利要求2所述的一种单颗量测印字偏移治具，其特征在于：所述底座（100）上设置有供所述固定块（114）插入的插槽（115）。
4.根据权利要求3所述的一种单颗量测印字偏移治具，其特征在于：所述固定块（114）设有两个，且两个固定块（114）的宽度不同。
5.根据权利要求4所述的一种单颗量测印字偏移治具，其特征在于：所述插槽（115）的内壁设置有形变凸起，所述固定块（11...
【专利技术属性】
技术研发人员：王木远，宁瑞强，渠立松，孙希雨，林煜斌，
申请(专利权)人：长电集成电路绍兴有限公司，
类型：新型
国别省市：
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