一种可调节芯片测试设备制造技术

本技术公开了一种可调节芯片测试设备，包括设备主体、测试座和测试治具，设备主体的底端设置有支撑结构，针脚固定于测试座的底端。本技术通过设置有固定结构可便于将测试治具进行拆装，此时需要将测试治具进行更换，将测试治具向上拉起，此时测试治具带动固定块从插孔的内部拉出，与此同时针脚会从连接孔的内部拉出，接着将对应规格的测试治具进行更换，将固定块对准插孔的位置，接着将测试治具向下推动，测试治具推动固定块向插孔的内部插入，此时弹簧推动推珠与固定块之间卡合，可对固定块起到一定的阻力，与此同时针脚插入连接孔的内部，可使测试治具与设备主体之间连接，实现了便于将测试治具进行拆装。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及芯片测试，特别涉及一种可调节芯片测试设备。

技术介绍

1、芯片是电子产品中不可缺少的元件，芯片可控制电子产品的运行，可使其实现各种功能，在芯片进行生产后会需要对其进行测试，通过测试可得知芯片是否可正常使用，此时会使用到芯片测试设备。

2、芯片测试设备的现有技术方案存在以下缺陷：在进行测试时只能安装一种规格的测试治具，当需要测试不同规格的芯片时需要使用到对应的测试设备，操作会较为麻烦，降低了测试的效率。

技术实现思路

1、(一)要解决的技术问题

2、本技术的目的是提供一种可调节芯片测试设备，用以解决现有的芯片测试设备在进行测试时只能安装一种规格的测试治具，当需要测试不同规格的芯片时需要使用到对应的测试设备，操作会较为麻烦，降低了测试效率的缺陷。

3、(二)
技术实现思路

4、为了解决上述技术问题，本技术提供如下技术方案：一种可调节芯片测试设备，包括设备主体、测试座和测试治具，所述设备主体的底端设置有支撑结构，所述设备主体的一端安装有控制面板，所述设备主体的顶端本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种可调节芯片测试设备，包括设备主体(1)、测试座(3)和测试治具(5)，其特征在于：所述设备主体(1)的底端设置有支撑结构(7)，所述设备主体(1)的一端安装有控制面板(2)，所述设备主体(1)的顶端固定有测试座(3)；

2.根据权利要求1所述的一种可调节芯片测试设备，其特征在于：所述固定块(601)设置有两个，所述固定块(601)在测试治具(5)的底端呈对称分布。

3.根据权利要求1所述的一种可调节芯片测试设备，其特征在于：所述针脚(605)设置有若干个，若干个所述针脚(605)在测试治具(5)的底端呈等间距分布。

4.根据权利要求1所述的一种...

【技术特征摘要】

1.一种可调节芯片测试设备，包括设备主体(1)、测试座(3)和测试治具(5)，其特征在于：所述设备主体(1)的底端设置有支撑结构(7)，所述设备主体(1)的一端安装有控制面板(2)，所述设备主体(1)的顶端固定有测试座(3)；

2.根据权利要求1所述的一种可调节芯片测试设备，其特征在于：所述固定块(601)设置有两个，所述固定块(601)在测试治具(5)的底端呈对称分布。

3.根据权利要求1所述的一种可调节芯片测试设备，其特征在于：所述针脚(605)设置有若干个，若干个所述针脚(605)在测试治具(5)的底端呈等间距分布。

4.根据权利要求1所述的一种可调节芯片测试设备，其特征在于：所述设备主体(1)和测试座(3)之间呈焊接一...

【专利技术属性】
技术研发人员：鲁光慧，岳宗莲，
申请(专利权)人：深圳市视界芯电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：