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本技术公开了一种可调节芯片测试设备，包括设备主体、测试座和测试治具，设备主体的底端设置有支撑结构，针脚固定于测试座的底端。本技术通过设置有固定结构可便于将测试治具进行拆装，此时需要将测试治具进行更换，将测试治具向上拉起，此时测试治具带动固定...
该专利属于深圳市视界芯电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市视界芯电子科技有限公司授权不得商用。

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