【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片测试架，尤其涉及一种测试芯片的两用测试架。
技术介绍
1、有许多治具之所以产生是因为商业的需要，因为有许多类型的治具是客制化的，某些是为了提高生产力、重复特定动作、或使工作更加精确，专门对芯片的功能、功率校准、寿命、性能等进行测试、试验的一种治具，因其主要在生产线上用于芯片的各项指标的测试，尤其是对手机主板进行生产加工时，为了保证芯片的合理率，需要用到专用的治具进行测试，但是在对不同大小的主板进行测试时，无法进行稳定固定，导致测试难以进行，无法测算出准确数值，从而提出一种手机主板测试架的调节组件，在对测试架进行使用时，根据主板的大小不同随时进行调整固定，便于工作人员进行操作和使用。
2、对此，申请号为cn202223262910.6的技术公开了一种手机主板测试架的调节组件，包括底座、支架、放置板、卡紧机构、限位块和定位块，底座的顶部与支架的底部固定连接，底座的顶部与放置板的底部固定连接，放置板的顶部与卡紧机构的底部固定连接，放置板的顶部与限位块的底部固定连接，两个限位块相反的一侧均与两个定位块相对的一侧固定连接...
【技术保护点】
1.一种测试芯片的两用测试架，其特征在于，包括能够与测试设备配合使用的测试底座，测试底座安装有测试台，测试台设置有用于安装芯片的定位结构；
2.根据权利要求1所述的一种测试芯片的两用测试架，其特征在于：所述拆卸结构包括安装在定位板的定位杆，压盖安装有能够摆动的连接块，连接块成型有勾住定位杆的倒钩块。
3.根据权利要求2所述的一种测试芯片的两用测试架，其特征在于：所述测试台还成型有供倒钩块活动的活动底槽，定位杆位于活动底槽上方。
4.根据权利要求3所述的一种测试芯片的两用测试架，其特征在于：所述连接块还成型有拨动块和转动块，压盖安装有...
【技术特征摘要】
1.一种测试芯片的两用测试架，其特征在于，包括能够与测试设备配合使用的测试底座，测试底座安装有测试台，测试台设置有用于安装芯片的定位结构；
2.根据权利要求1所述的一种测试芯片的两用测试架，其特征在于：所述拆卸结构包括安装在定位板的定位杆，压盖安装有能够摆动的连接块，连接块成型有勾住定位杆的倒钩块。
3.根据权利要求2所述的一种测试芯片的两用测试架，其特征在于：所述测试台还成型有供倒钩块活动的活动底槽，定位杆位于活动底槽上方。
4.根据权利要求3所述的一种测试芯片的两用测试架，其特征在于：所述连接块还成型有拨动块和转动块，压盖安装有转动轴，转动块与转动轴转动连接，连接块通过转动块能够绕着转动轴摆动。
5.根据权利要求4所述的一种测试芯片的两用测试架，其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员：冯凯，杨焱武，刘东东，梁才，
申请(专利权)人：深圳市因梦晶凯测试技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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