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本技术涉及芯片测试架技术领域,尤其涉及一种测试芯片的两用测试架,包括能够与测试设备配合使用的测试底座,测试底座安装有测试台,测试台设置有定位结构;定位结构包括定位板以及定位槽,定位板安装有将芯片定位于定位槽的压盖,定位板与压盖之间设置有拆卸...该专利属于深圳市因梦晶凯测试技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市因梦晶凯测试技术有限公司授权不得商用。
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