【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于半导体加工,具体涉及一种柔性产品的制造方法。
技术介绍
1、现有实现聚酰亚胺(pi)膜层与基底分离的方法主要有化学和物理两种方式,化学方法通常在pi膜层和基底之间增加牺牲层,如氧化硅层,通过氢氟酸腐蚀氧化硅实现pi膜层的释放;物理方法有通过纯机械撕膜的方式,把pi膜层从基底上分离。
2、然而,对某些特定的应用领域,由于化学方法需要使用化学药品而不能接受,特别是像氢氟酸类的强酸、高危险化药。而纯机械撕膜的物理方式通常只能适用较少面积及较厚的膜层,很难实现厚度2um以下薄pi膜层的大面积分离,如在8寸晶圆上实现pi膜层分离。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是提供一种柔性产品的制造方法,至少可以解决现有技术中存在的部分缺陷。
2、为了实现上述目的,本专利技术采用如下技术方案:
3、一种柔性产品的制造方法,包括如下过程:
4、在基底上形成第一膜层,再在第一膜层上形成第二膜层,并且第一膜层与第二膜层之间的表面结合力小于第一膜层与基底之
...【技术保护点】
1.一种柔性产品的制造方法,其特征在于,包括如下过程:
2.如权利要求1所述的柔性产品的制造方法,其特征在于,所述机械分离方式为:从第二膜层一侧施加作用力,使基底产生裂片并弯曲翘起,实现第二膜层与第一膜层之间界面分离。
3.如权利要求2所述的柔性产品的制造方法,其特征在于,所述第一膜层上刻蚀开设有槽口,且从所述基底上背向第一膜层一侧开始进行裂片,所述基底的裂片位置对应所述槽口。
4.如权利要求1所述的柔性产品的制造方法,其特征在于,所述机械分离方式为:通过干法刻蚀或激光切割的方式从第二膜层表面进行开槽,其开槽深度不小于第二膜层厚度,
...【技术特征摘要】
1.一种柔性产品的制造方法,其特征在于,包括如下过程:
2.如权利要求1所述的柔性产品的制造方法,其特征在于,所述机械分离方式为:从第二膜层一侧施加作用力,使基底产生裂片并弯曲翘起,实现第二膜层与第一膜层之间界面分离。
3.如权利要求2所述的柔性产品的制造方法,其特征在于,所述第一膜层上刻蚀开设有槽口,且从所述基底上背向第一膜层一侧开始进行裂片,所述基底的裂片位置对应所述槽口。
4.如权利要求1所述的柔性产品的制造方法,其特征在于,所述机械分离方式为:通过干法刻蚀或激光切割的方式从第二膜层表面进行开槽,其开槽深度不小于第二膜层厚度,再对第二膜层进行边角揭膜,实现第二膜层与第一膜层之间界面分离;
5.如权利要求1所述的柔性产品的制造方法,其特征在于,所述第二膜层为聚酰亚胺膜,所述第一膜层选用聚酰亚...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄晟,黄立,毛添华,蒋文杰,汪超,陈绪文,王春水,
申请(专利权)人:武汉高芯科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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