【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及薄膜缺陷检测，具体涉及一种薄膜表面缺陷检测方法及系统。
技术介绍
1、薄膜表面缺陷检测是一种用于识别和评估薄膜材料表面缺陷的技术方法。薄膜材料常用于电子、光学和包装等领域，其表面质量直接影响其性能和使用寿命。缺陷检测的目的是在生产过程中及时发现和定位薄膜表面的划痕、气泡、颗粒、褶皱等缺陷，以确保产品质量和稳定性。
2、薄膜表面缺陷检测通常采用光学成像、激光检测、超声波等多种技术手段，通过对反射、散射或透射光的分析来识别不同类型的缺陷。自动化的缺陷检测系统利用图像处理和机器学习算法，实现对薄膜表面缺陷的快速分类和评估，从而大幅提升检测效率并降低人力成本。这类检测技术对提升薄膜材料的制造精度和产品合格率起到了重要作用。
3、现有技术存在以下不足之处：
4、在薄膜生产过程中，由于背景颜色或纹理复杂，尤其是在特定光线条件或干扰物（如机械油污、灰尘）的作用下，薄膜可能会反射出非真实的纹理。这些伪纹理可能会被检测系统误认为缺陷，导致误报率骤升，干扰正常检测。且当伪纹理误报增多时，检测系统通常需要频繁...
【技术保护点】
1.一种薄膜表面缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种薄膜表面缺陷检测方法，其特征在于：S3中，对每个像素点的发射强度波动特征进行分析后生成发射强度波动指数，发射强度波动指数的获取方法为：
3.根据权利要求2所述的一种薄膜表面缺陷检测方法，其特征在于：S3中，对每个像素点的光源响应偏差特征进行分析后生成光源响应偏差指数，光源响应偏差指数的获取方法为：
4.根据权利要求3所述的一种薄膜表面缺陷检测方法，其特征在于：S4中，对提取出的发射强度波动特征以及光源响应偏差特征进行综合分析，根据分析结果评估检测系...
【技术特征摘要】
1.一种薄膜表面缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种薄膜表面缺陷检测方法，其特征在于：s3中，对每个像素点的发射强度波动特征进行分析后生成发射强度波动指数，发射强度波动指数的获取方法为：
3.根据权利要求2所述的一种薄膜表面缺陷检测方法，其特征在于：s3中，对每个像素点的光源响应偏差特征进行分析后生成光源响应偏差指数，光源响应偏差指数的获取方法为：
4.根据权利要求3所述的一种薄膜表面缺陷检测方法，其特征在于：s4中，对提取出的发射强度波动特征以及光源响应偏差特征进行综合分析，根据分析结果评估检测系统识别薄膜表面真实缺陷的准确性，具体为：
5.根据权利要求4所述的一种薄膜表面缺陷检测方法，其特征在于：s5中，将检测系统识别薄膜表面真实缺陷的准确性划分为不同的等级，将其划分为高准确性检测等级，中准确性检测等级和低准确性检测等级，具体为：
6.根据权利要求1所述的一种薄膜表面缺陷检测...
【专利技术属性】
技术研发人员：王暾，潘伟林，王天塬，李胜明，
申请(专利权)人：杭州赤霄科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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