用于侧面入射成像且具有位于辐射吸收层中的辐射阻挡板的图像传感器制造技术

技术编号:43867634 阅读:14 留言:0更新日期:2024-12-31 18:53
本申请公开一种带有图像传感器的系统,图像传感器具有:平行于第一参考平面的M个辐射吸收层(辐射吸收层(i),i=1、……、M),其中M为大于1的整数;以及平行于第一参考平面的M个辐射阻挡层(辐射阻挡层(i),i=1、……、M)。M个辐射吸收层和M个辐射阻挡层共同形成2×M层的叠堆,在所述叠堆中,M个辐射吸收层和M个辐射阻挡层以交替的方式布置。对于i的每个值,辐射阻挡板(i,j)(j=1、……、Ni)嵌入在辐射吸收层(i)中,其中Ni(i=1、……、M)为正整数。辐射阻挡板(i,j)(i=1、……、M,并且j=1、……、Ni)平行于与第一参考平面垂直的第二参考平面。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】


技术介绍

1、辐射检测器是测量辐射特性的装置。特性的示例可以包括辐射的强度、相位和偏振的空间分布。辐射检测器所测量的辐射可以是已经透过物体的辐射。辐射检测器所测量的辐射可以是电磁辐射,例如红外光、可见光、紫外光、x射线或γ射线。辐射可以是其它类型,例如α射线和β射线。成像系统可以包括一个或多个图像传感器,每个图像传感器可以具有一个或多个辐射检测器。


技术实现思路

1、本申请公开一种带有图像传感器的系统,图像传感器具有:平行于第一参考平面的m个辐射吸收层(辐射吸收层(i),i=1、……、m),其中m为大于1的整数;以及平行于第一参考平面的m个辐射阻挡层(辐射阻挡层(i),i=1、……、m)。m个辐射吸收层和m个辐射阻挡层共同形成2×m层的叠堆,在所述叠堆中,m个辐射吸收层和m个辐射阻挡层以交替的方式布置。对于i的每个值,辐射阻挡板(i,j)(j=1、……、ni)嵌入在辐射吸收层(i)中,其中ni(i=1、……、m)为正整数。辐射阻挡板(i,j)(i=1、……、m,并且j=1、……、ni)平行于与第一参考平面垂本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种包括图像传感器的系统,所述图像传感器包括:

2.如权利要求1所述的系统,

3.如权利要求2所述的系统,

4.如权利要求1所述的系统,其中,所述M个辐射阻挡层中的每个辐射阻挡层都是电隔离的。

5.如权利要求1所述的系统,其中,所述辐射阻挡板(i,j),i=1、……、M,并且j=1、……、Ni中的每个辐射阻挡板都是电隔离的。

6.如权利要求1所述的系统,其中,所述辐射阻挡板(i,j),i=1、……、M,并且j=1、……、Ni中的每个辐射阻挡板与所述M个辐射阻挡层中的一个辐射吸收层直接物理接触。

>7.如权利要求1所...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种包括图像传感器的系统,所述图像传感器包括:

2.如权利要求1所述的系统,

3.如权利要求2所述的系统,

4.如权利要求1所述的系统,其中,所述m个辐射阻挡层中的每个辐射阻挡层都是电隔离的。

5.如权利要求1所述的系统,其中,所述辐射阻挡板(i,j),i=1、……、m,并且j=1、……、ni中的每个辐射阻挡板都是电隔离的。

6.如权利要求1所述的系统,其中,所述辐射阻挡板(i,j),i=1、……、m,并且j=1、……、ni中的每个辐射阻挡板与所述m个辐射阻挡层中的一个辐射吸收层直接物理接触。

7.如权利要求1所述的系统,其中,所述辐射阻挡板(i,j),i=1、……、m,并且j=1、……、ni中的每个辐射阻挡板不与所述m个辐射阻挡层中的任何辐射吸收层直接物理接触。

8.如权利要求1所述的系统,

9.如权利要求1所述的系统,还包括辐射源,其中,与所述辐射源和所述图像传感器均相交的一直线平行于所述第一参考平面和所述第二参考平面。

10.如权利要求9所述的系统,

11...

【专利技术属性】
技术研发人员:曹培炎刘雨润
申请(专利权)人:深圳帧观德芯科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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