一种X射线衍射仪制造技术

本发明专利技术公开了一种X射线衍射仪，包括样品台、X射线源以及至少一个探测器组，样品台具有用于放置样品的样品放置区；X射线源用于向样品放置区发射X射线；探测器组包括多个探测器，多个探测器沿着弯曲的排列方向排列成一列，排列方向在探测器组的中心平面内延伸，各个探测器的具有有效探测区的第一表面朝向样品放置区，有效探测区用于探测衍射后的X射线，多个探测器的有效探测区沿着排列方向间隔排列。多个探测器采用弯曲的排列方式进行排列，多个探测器可以同时探测衍射后的X射线，从而提高了探测的效率，并能够得到在空间上连续分布的X射线的衍射信息，而且，由于探测器的有效探测区是二维像素阵列，因而获取的衍射信息更多。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术实施例涉及检测分析仪器，尤其是涉及一种x射线衍射仪。

技术介绍

1、随着科学技术的不断发展，人们逐渐开发出了用于检测物质的仪器，例如x射线衍仪。x射线衍射仪是利用衍射原理，精确测定物质的晶体结构，织构及应力，精确的进行物相分析、定性分析以及定量分析，广泛应用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教学以及材料生产等领域。

2、一般来说,x射线衍射仪包括x射线源、样品台、探测器以及控制器，探测器采用单个的点探测器。检测时，x射线经过光路调整后射向样品台，探测器沿着弧形曲线移动，同时探测从样品衍射的x射线，每移动一步仅能收集一个小角度的数据，并且由于从样品衍射的x射线分布成以样品为顶点的圆锥状，而探测器在沿着弧形曲线移动时，仅能探测相对较少的衍射的一部分x射线，导致获得可用于分析的数据量较少，由此带来测量不便。

技术实现思路

1、为了解决上述技术问题，本专利技术实施例提供了一种方便测量的x射线衍射仪。

2、本专利技术实施例解决其技术问题采用以下技术方案：

<p>3、一种x射线衍本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种X射线衍射仪，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的X射线衍射仪，其特征在于，所述探测器组能够绕着垂直于所述中心平面的轴线转动，所述轴线垂直于从所述X射线源至所述样品放置区的X射线的行进路径，所述轴线穿过所述样品放置区。

3.根据权利要求2所述的X射线衍射仪，其特征在于，所述排列方向以圆弧的形式延伸，所述轴线经过所述圆弧的圆心，所述圆心位于所述中心平面内。

4.根据权利要求3所述的X射线衍射仪，其特征在于，所述圆弧的圆心位于所述样品放置区。

5.根据权利要求1-4任一项所述的X射线衍射仪，其特征在于，所述X射线衍射仪包括两个探...

【技术特征摘要】

1.一种x射线衍射仪，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的x射线衍射仪，其特征在于，所述探测器组能够绕着垂直于所述中心平面的轴线转动，所述轴线垂直于从所述x射线源至所述样品放置区的x射线的行进路径，所述轴线穿过所述样品放置区。

3.根据权利要求2所述的x射线衍射仪，其特征在于，所述排列方向以圆弧的形式延伸，所述轴线经过所述圆弧的圆心，所述圆心位于所述中心平面内。

4.根据权利要求3所述的x射线衍射仪，其特征在于，所述圆弧的圆心位于所述样品放置区。

5.根据权利要求1-4任一项所述的x射线衍射仪，其特征在于，所述x射线衍射仪包括两个探测器组，所述两个探测器组以不阻碍彼此探测所述x射线的方式沿所述两个探测器组的横向方向排列。

6.根据权利要求5所述的x射线衍射仪，其特征在于，所述有效探测区具有沿着所述排列方向的第一尺寸和沿着所述横向方向的第二尺寸，所述横向方向垂直于所述第一尺寸所在的直线。

7.根据权利要求6所述的x射线衍射仪，其特征在于，所述有效探测区包括多个像素，所述多个像素排列成二维阵列。

8.根据权利要求6所述的x射线衍射仪，其特征在于，所述探测器组中的相邻的两个探测器的有效探测区之间的距离不超过所述探测器的有效探测区的第一尺寸，并且，沿着所述横向方向，所述两个探测器组中的一个探测器组的相邻的两个探测器的有效探测区之间的间隙与所述两个探测器组中的另一个探测器组的一个探测器重叠。

9.根据权利要求5所述的x射线衍射仪，其特征在于，所述多个探测器的第一表面垂直于所述中心平面，且所述横向方向垂直于所述中心平面，

10.根据权利要求5所述的x射线衍射仪，其特征在于，还包括切换单元，所述切换单元连接于所述x射线源，所述切换单元用于相对于所述两个探测器组将所述x射线源移动至第一位置或第二位置，

11.根据权利要求10所述的x射线衍射仪，其特征在于，还包括主支架，所述切换单元连接于所述主支架。

12.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹元杰，付献，郑贵聪，
申请(专利权)人：深圳帧观德芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：