芯片测试数据分析图表确定方法、装置、电子设备及介质制造方法及图纸

本申请提供芯片测试数据分析图表确定方法、装置、电子设备及介质，方法应用于芯片硅后验证设备，包括：响应针对分析图表配置界面的点击操作，获取待处理芯片测试数据；响应选择操作，跳转至目标图表类型的统计规则配置界面；响应测试项目、测试条件、聚合运算方式的选择操作以及测试条件范围筛选表达式的输入操作，生成在目标图表类型图表中的统计规则；跳转回分析图表配置界面，响应点击操作，基于待处理芯片测试数据以及统计规则，确定待处理芯片测试数据目标图表类型的芯片测试数据分析图表。这样，基于用户配置自动生成的统计规则自动生成芯片测试数据分析图表，提高了芯片测试数据分析图表生成效率，进而提高了芯片测试结果统计分析效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及半导体测试，尤其涉及芯片测试数据分析图表确定方法、装置、电子设备及介质。

技术介绍

1、芯片测试结果的统计分析是对芯片测试数据进行整理、分析和解释的过程。对芯片测试结果的统计分析有助于了解芯片的性能、稳定性以及可能存在的问题，并且可以基于统计分析结果对芯片的生产以及优化进行决策或改进，对于确保芯片质量、诊断问题、优化性能以及支持决策至关重要。

2、现有的针对芯片测试结果的统计分析需要人工将原始芯片测试数据拷贝到excel中，并在excel中手动编写公式和规则来计算所需的统计结果并生成表格，然后利用excel中的图表功能绘制散点图，以得到芯片测试数据分析图表来确定芯片是否合格。由于不同的测试条件和统计方式需要编写的公式和规则不同，每次测试一批芯片都需要人工手动拷贝芯片测试数据并重新设置公式和规则，手动操作绘制芯片测试数据分析图表工作量较大、时间较长且容易出现错误，芯片测试数据分析图表的生成效率较低，进而导致芯片测试结果统计分析的效率较低。

技术实现思路

1、有鉴于此，本申请实施例至少提供芯本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种芯片测试数据分析图表确定方法，其特征在于，应用于芯片硅后验证设备，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的芯片测试数据分析图表确定方法，其特征在于，在响应用户针对芯片测试数据分析图表配置界面中测试数据获取按钮的点击操作，获取待处理芯片测试数据之前，所述方法还包括：

3.根据权利要求1所述的芯片测试数据分析图表确定方法，其特征在于，当所述图表类型为交叉表时，所述响应用户针对所述目标图表类型的统计规则配置界面中所述待处理芯片测试数据的测试项目、测试条件、聚合运算方式的选择操作以及测试条件范围筛选表达式的输入操作，生成所述待处理芯片测试数据在所述目标图表类型的图...

【技术特征摘要】

1.一种芯片测试数据分析图表确定方法，其特征在于，应用于芯片硅后验证设备，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的芯片测试数据分析图表确定方法，其特征在于，在响应用户针对芯片测试数据分析图表配置界面中测试数据获取按钮的点击操作，获取待处理芯片测试数据之前，所述方法还包括：

3.根据权利要求1所述的芯片测试数据分析图表确定方法，其特征在于，当所述图表类型为交叉表时，所述响应用户针对所述目标图表类型的统计规则配置界面中所述待处理芯片测试数据的测试项目、测试条件、聚合运算方式的选择操作以及测试条件范围筛选表达式的输入操作，生成所述待处理芯片测试数据在所述目标图表类型的图表中的统计规则，包括：

4.根据权利要求3所述的芯片测试数据分析图表确定方法，其特征在于，所述响应用户针对所述芯片测试数据分析图表配置界面中图表生成按钮的点击操作，基于所述待处理芯片测试数据以及所述待处理芯片测试数据在所述目标图表类型的图表中的统计规则，确定所述待处理芯片测试数据的所述目标图表类型的芯片测试数据分析图表，包括：

5.根据权利要求1所述的芯片测试数据分析图表确定方法，其特征在于，当所述图表类型为散点图时，所述响应用户针对所述目标图表类型的统计规则配置界面中所述待处理芯片测试数据的测试项目、测试条件、聚合运算方式的选择操作以及测试条件范围筛选表达式的...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘祥，骆劼行，
申请(专利权)人：上海孤波科技有限公司，
类型：发明
国别省市：