【技术实现步骤摘要】
本技术涉及晶圆生产,具体为一种用于晶圆封装的测试工装。
技术介绍
1、晶圆的生产过程中封装测试是非常重要的一步。测试一般分为一般测试和特殊测试,前者是将封装后的芯片置于各种环境中检测其电气特性,如消耗功率、运行速度、耐压度等,经过测试后的芯片,依照其电器特性划分为不同等级;
2、目前的一种晶圆封装测试装置,如公告号cn219320359u的专利所述一种晶圆封装测试装置其组成包括:探针台、玻璃壳、送气装置、抽气装置和排气口,所述玻璃壳的顶部与探针台的顶部固定连接,所述送气装置固定连接在玻璃壳的一侧,所述抽气装置固定连接在玻璃壳的顶部,所述排气口固定连接在玻璃壳的顶部一角;装夹组件,所述装夹组件包括滑动连接在第二固定板顶部的安装板;过压保护组件,所述过压保护组件包括固定安装在安装板底部的第二圆杆。该技术中,晶圆装夹方便,具有过压保护的功能,保护晶圆测试时不被损坏。
3、针对上述中的相关技术,申请人发现一种晶圆封装测试装置在对晶圆进行固定时,需要手动拉动手柄,并在弹簧的抵接下,实现对晶圆的固定,但在对多组晶圆进行依次测
...【技术保护点】
1.一种用于晶圆封装的测试工装,其特征在于:包括探针台(1),所述探针台(1)的底部设有固定台(101),所述固定台(101)的顶部安装有夹持组件(2),所述夹持组件(2)包括托板(201),所述固定台(101)的顶部开设有供托板(201)收纳的收纳槽(202),所述托板(201)的底部通过齿板(203)传动连接有双向螺纹杆(204),所述双向螺纹杆(204)的两端均螺纹连接有螺纹套(205),所述螺纹套(205)的顶部固设有传动杆(206),所述固定台(101)的内部开设有供传动杆(206)滑动的限位槽(2061)所述传动杆(206)的顶部设有夹板(207),所述托
...【技术特征摘要】
1.一种用于晶圆封装的测试工装,其特征在于:包括探针台(1),所述探针台(1)的底部设有固定台(101),所述固定台(101)的顶部安装有夹持组件(2),所述夹持组件(2)包括托板(201),所述固定台(101)的顶部开设有供托板(201)收纳的收纳槽(202),所述托板(201)的底部通过齿板(203)传动连接有双向螺纹杆(204),所述双向螺纹杆(204)的两端均螺纹连接有螺纹套(205),所述螺纹套(205)的顶部固设有传动杆(206),所述固定台(101)的内部开设有供传动杆(206)滑动的限位槽(2061)所述传动杆(206)的顶部设有夹板(207),所述托板(201)与收纳槽(202)之间弹性连接有复位弹簧(208)。
2.根据权利要求1所述的一种用于晶圆封装的测试工装,其特征在于:所述探针台(1)与固定台(101)之间固定安装有液压杆(102),所述探针台(1)的顶部设有玻璃罩(103),所述玻璃罩(103)的顶部安装有抽气装置(104),所述玻璃罩(103)顶部靠近抽气装置(104)的位置安装有排气阀(105),所述玻璃罩(103)的一端安装有送气装置(106),所述夹板(207)与传动杆...
【专利技术属性】
技术研发人员:张世隆,符耀方,杨兵兵,
申请(专利权)人:上海东沅集成电路有限公司,
类型:新型
国别省市:
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