【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学三维测量领域，尤其涉及用于条纹投影轮廓术所采集的投影图片高光的去除和条纹信息的修复。
技术介绍
1、高光修复技术广泛应用于视觉检测领域，能精确捕捉物体表面微小细节和形状，为最后的检测提供重要的几何特征和颜色信息支持。在极端光学环境下，在使用条纹投影轮廓术对目标进行测量时，目标表面高反射率和外部极端光照环境往往会导致采集的目标条纹图像出现大量的高光成分，从而导致条纹信息的错误，继而影响目标的测量精度，因此高光去除和条纹信息的修复在光学三维测量领域至关重要。对于高光去除和条纹信息修复，主要难点在于如何利用单幅图像的有限信息抑制高光并修复条纹信息。传统的基于纯图像处理方法通常只适用于高光成分较弱的图像，且其修复的颜色和纹理信息精确度要求并不高，往往只需满足基本的特征识别需求即可，但条纹投影轮廓术中目标的测量结果深度依赖条纹图像的相位信息，因此现有的传统高光去除方法无法满足条纹图像的精确修复需求，存在较大的局限性，亟需开发出一套精确的针对条纹图像的高光修复方法。
技术实现思路
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【技术保护点】
1.一种针对条纹投影轮廓术图像中强高光区域的先验引导修复方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的在条纹投影轮廓术图像中强高光的先验引导修复方法，其特征在于，步骤S1所述的对条纹投影轮廓术图像的高光区域进行识别和定位的方法为：
3.根据权利要求1所述的在条纹投影轮廓术图像中强高光的先验引导修复方法，其特征在于，所述步骤S3的方法为：
4.根据权利要求1所述的在条纹投影轮廓术图像中强高光的先验引导修复方法，其特征在于，所述步骤S2和步骤S4的方法为：
5.根据权利要求1所述的在条纹投影轮廓术图像中强高光的先...
【技术特征摘要】
1.一种针对条纹投影轮廓术图像中强高光区域的先验引导修复方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的在条纹投影轮廓术图像中强高光的先验引导修复方法，其特征在于，步骤s1所述的对条纹投影轮廓术图像的高光区域进行识别和定位的方法为：
3.根据权利要求1所述的在条纹投影轮廓术图像...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙翔，罗珍珺，张云鹏，凌兆燏，张滢洁，彭书祺，戴丽珍，
申请(专利权)人：华东交通大学，
类型：发明
国别省市：
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