一种用于显微镜材料表征的微顶推装置及其使用方法制造方法及图纸

本发明专利技术属于微顶推技术领域，且公开了一种用于显微镜材料表征的微顶推装置及其使用方法。包括物品底座，所述物品底座上安装有测量悬臂，所述测量悬臂远离物品底座的一侧安装有测量探针，所述物品底座上转动连接有水平控制螺纹轴，所述水平控制螺纹轴上螺纹连接有夹紧支架，所述夹紧支架上滑动连接有对称分布的上夹紧块，所述上夹紧块下侧安装有待测样品，所述物品底座下侧固定连接有垂直转动架；本发明专利技术通过设置水平调控齿和待测样品等结构的配合，进而带动夹紧支架滑动，通过上夹紧块和下夹紧块在夹紧拉簧的拉力作用下对待测样品进行夹紧，同时通过水平调控齿转动带动待测样品沿水平方向滑动，达到待测样品可自由水平滑动的效果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于微顶推，具体是一种用于显微镜材料表征的微顶推装置及其使用方法。

技术介绍

1、传统的力学实验研究难以获取材料在变形过程中对应的微观结构演化图像，而通过分子模拟虽然可以提供重要的原子或分子尺度的信息，但这些模拟通常基于严苛的极限条件，如理想的高应变率、超低温度或极小的样品尺寸等，难以为实验所验证，原位观测材料表面在变形过程中的力、电、热、磁、光等性质变化，是研究材料这些性质变化对应的材料结构机理的重要途径；

2、现有装置在对检测样本进行检测的时候，通过微顶推装置对检测样本进行挤压，难以定量控制挤压的程度，同时检测样本固定不动，难以对检测样本多位置进行检测。

技术实现思路

1、为解决上述
技术介绍
中提出的难以实现对检测样本的定量检测和难以实现对检测样本多位置检测的问题，本专利技术提供了一种用于显微镜材料表征的微顶推装置及其使用方法。

2、为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种用于显微镜材料表征的微顶推装置，包括物品底座，所述物品底座上安装有测量悬臂，所述测量悬臂远离物本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于显微镜材料表征的微顶推装置，包括物品底座（100），其特征在于：所述物品底座（100）上安装有测量悬臂（101），所述测量悬臂（101）远离物品底座（100）的一侧安装有测量探针（200），所述物品底座（100）上转动连接有水平控制螺纹轴（301），所述水平控制螺纹轴（301）上螺纹连接有夹紧支架（302），所述夹紧支架（302）上滑动连接有对称分布的上夹紧块（303），所述上夹紧块（303）下侧安装有待测样品（400），所述物品底座（100）下侧固定连接有垂直转动架（500），所述垂直转动架（500）贯穿转动连接有垂直控制螺纹轴（502），所述垂直控制螺纹轴（502）上贯穿...

【技术特征摘要】

1.一种用于显微镜材料表征的微顶推装置，包括物品底座（100），其特征在于：所述物品底座（100）上安装有测量悬臂（101），所述测量悬臂（101）远离物品底座（100）的一侧安装有测量探针（200），所述物品底座（100）上转动连接有水平控制螺纹轴（301），所述水平控制螺纹轴（301）上螺纹连接有夹紧支架（302），所述夹紧支架（302）上滑动连接有对称分布的上夹紧块（303），所述上夹紧块（303）下侧安装有待测样品（400），所述物品底座（100）下侧固定连接有垂直转动架（500），所述垂直转动架（500）贯穿转动连接有垂直控制螺纹轴（502），所述垂直控制螺纹轴（502）上贯穿螺纹连接有滑动螺纹块（504），所述滑动螺纹块（504）内转动连接有连接曲柄（505），所述连接曲柄（505）转动连接有微顶块（507），所述微顶块（507）和待测样品（400）挤压配合。

2.根据权利要求1所述的用于显微镜材料表征的微顶推装置，其特征在于：所述水平控制螺纹轴（301）上固定连接有水平调控齿（300），所述夹紧支架（302）在上夹紧块（303）下侧贯穿滑动连接有对称分布的下夹紧块（304）。

3.根据权利要求2所述的用于显微镜材料表征的微顶推装置，其特征在于：所述上夹紧块（303）和下夹紧块（304） 上均设置有用于夹紧待测样品（400）的斜齿，所述下夹紧块（304）与上夹紧块（303）之间设置有夹紧拉簧（305）。

4.根据权利要求1所述的用于显微镜材料表征的微顶推装置，其特征在于：所述垂直控制螺纹轴（502）上固定连接有垂直转动齿（501），所述滑动螺纹块（504）贯穿转动连接有水平限位滑动杆（506），所述微顶块（507）上贯穿转动连接有垂直限位滑动杆（508），所述垂直控制螺纹轴（502）上设置有旋向相反的螺纹。...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖振兴，何艾洲，姜枫洁，李圣锴，阮秋毅，刘子源，胡琼月，李竹青，
申请(专利权)人：武汉工程大学，
类型：发明
国别省市：