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本发明属于微顶推技术领域，且公开了一种用于显微镜材料表征的微顶推装置及其使用方法。包括物品底座，所述物品底座上安装有测量悬臂，所述测量悬臂远离物品底座的一侧安装有测量探针，所述物品底座上转动连接有水平控制螺纹轴，所述水平控制螺纹轴上螺纹连接...
该专利属于武汉工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉工程大学授权不得商用。

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