一种N掺杂Mg4Ta2O9闪烁发光材料及其制备方法和应用技术

技术编号:43533939 阅读:26 留言:0更新日期:2024-12-03 12:18
本发明专利技术公开了一种N掺杂Mg4Ta2O9闪烁发光材料及其制备方法和应用,N掺杂Mg4Ta2O9闪烁发光材料的化学式为:Mg4Ta2O9:x wt%CO(NH2)2,其中,0.5≤x≤20。本发明专利技术采用二步高温固相反应法合成掺N的Mg4Ta2O9化合物,能够在空气中稳定存在,且工艺安全简单,容易控制。此外,本发明专利技术的掺N的Mg4Ta2O9XEL发光强度是Mg4Ta2O9(MTO)的1.47~2.61倍。其中Mg4Ta2O9:2wt%CO(NH2)2的XEL发光强度最高,是Mg4Ta2O9(MTO)的2.61倍,在安检、核医学成像和工业检测等领域中具有广阔的应用前景。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于核辐射探测闪烁发光材料,具体涉及一种n掺杂mg4ta2o9闪烁发光材料及其制备方法和应用。


技术介绍

1、基于安检行业对“更快的安检通行速率,更高的准确度,更低的误报率”不断增长的迫切需求,急需发展无毒环保、无潮解、综合性能更加优良(低成本、高光产额、高能量分辨率、高密度、短衰减时间、低余晖等)的安检用新一代闪烁晶体,用以替代现有含毒性元素的cdwo4和csi:tl+闪烁晶体。

2、cdwo4晶体的光产额不高,但具有余辉低的优势,主要被用在x射线激发强度高且安检通行速率超快的海关货运集装箱安检设备上。csi:tl+晶体具有光产额高的优势和余辉较长的劣势,主要被应用在x射线激发强度不高且安检通行速率较慢的火车站、机场、地铁行李安检设备上。这两种晶体都有毒性元素、不能满足新一代安检用闪烁体材料的要求。在医学成像领域中得以商用的bgo晶体及lyso晶体的余辉较长,在高速安检应用时会导致成像质量差,有“伪影”。

3、mg4ta2o9晶体的闪烁综合性能和cdwo4比较接近,但由于其体系无毒环保、掺杂改性方面的独特优势,使得其有可本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种N掺杂Mg4Ta2O9闪烁发光材料,其特征在于,所述N掺杂Mg4Ta2O9闪烁发光材料的化学式为:Mg4Ta2O9:x wt%CO(NH2)2,其中,0.5≤x≤20。

2.根据权利要求1所述的N掺杂Mg4Ta2O9闪烁发光材料,其特征在于,所述N掺杂Mg4Ta2O9的XEL发光峰位于368~378nm,发光峰覆盖300~500nm波段,发光峰强度是Mg4Ta2O9的1.47~2.61倍,光学带隙宽度为3.586~3.745eV。

3.根据权利要求1~2所述的N掺杂Mg4Ta2O9闪烁发光材料的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:>

4.根据权利...

【技术特征摘要】

1.一种n掺杂mg4ta2o9闪烁发光材料,其特征在于,所述n掺杂mg4ta2o9闪烁发光材料的化学式为:mg4ta2o9:x wt%co(nh2)2,其中,0.5≤x≤20。

2.根据权利要求1所述的n掺杂mg4ta2o9闪烁发光材料,其特征在于,所述n掺杂mg4ta2o9的xel发光峰位于368~378nm,发光峰覆盖300~500nm波段,发光峰强度是mg4ta2o9的1.47~2.61倍,光学带隙宽度为3.586~3.745ev。

3.根据权利要求1~2所述的n掺杂mg4ta2o9闪烁发光材料的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:

4.根据权利要求3所述的n掺杂mg4ta2o9闪烁发光材料的制备方法,...

【专利技术属性】
技术研发人员:马云峰冯世昌梅洋洋潘良卫孙鹏陈富裕韦甫涛蒋毅坚徐家跃
申请(专利权)人:上海应用技术大学
类型:发明
国别省市:

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