【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及嵌套斯格明子材料,尤其涉及具有嵌套斯格明子的bifeo3薄膜及其制备方法与应用。
技术介绍
1、近年来纳米铁电薄膜中的极化拓扑畴结构由于其特殊的极化结构和优异的物理性能,一直是凝聚态物理和高密度非易失性存储器领域的研究热点之一。其中,bifeo3是一种有前景的多铁性材料,作为目前唯一同时具有铁电性和(反)铁磁性的室温单相多铁且对环境友好的材料,调控其潜在的拓扑畴结构便一直是领域内重要的科学和技术问题。
2、斯格明子是本征地嵌入在铁电材料中的拓扑畴图案,有利于实现高密度的信息存储,其具有丰富的物理学特性以及广阔的器件应用前景,为研究新型的纳米尺寸拓扑结构及其极性性质提供了全新的平台。
3、然而,由于控制复杂的边界条件存在巨大挑战,bifeo3材料在嵌套斯格明子方面的研究仍然进展缓慢,目前仍然无法通过简单的方法有效制备得到具有嵌套斯格明子的bifeo3材料。
4、因此,现有技术还有待于改进和发展。
技术实现思路
1、基于上述现有技术的不足,本专
...【技术保护点】
1.一种具有嵌套斯格明子的BiFeO3薄膜的制备方法,其特征在于,包括步骤:
2.根据权利要求1所述的具有嵌套斯格明子的BiFeO3薄膜的制备方法,其特征在于,所述具有嵌套斯格明子的BiFeO3薄膜的厚度为3~17nm。
3.根据权利要求1所述的具有嵌套斯格明子的BiFeO3薄膜的制备方法,其特征在于,以嵌套斯格明子的面外极化方向的角度变化进行分类,所述嵌套斯格明子的类型为π嵌套斯格明子、2π嵌套斯格明子或3π嵌套斯格明子。
4.根据权利要求1所述的具有嵌套斯格明子的BiFeO3薄膜的制备方法,其特征在于,所述具有嵌套斯格明子的Bi
...【技术特征摘要】
1.一种具有嵌套斯格明子的bifeo3薄膜的制备方法,其特征在于,包括步骤:
2.根据权利要求1所述的具有嵌套斯格明子的bifeo3薄膜的制备方法,其特征在于,所述具有嵌套斯格明子的bifeo3薄膜的厚度为3~17nm。
3.根据权利要求1所述的具有嵌套斯格明子的bifeo3薄膜的制备方法,其特征在于,以嵌套斯格明子的面外极化方向的角度变化进行分类,所述嵌套斯格明子的类型为π嵌套斯格明子、2π嵌套斯格明子或3π嵌套斯格明子。
4.根据权利要求1所述的具有嵌套斯格明子的bifeo3薄膜的制备方法,其特征在于,所述具有嵌套斯格明子的bifeo3薄膜内含有纳米岛结构,所述纳米岛结构由多个纳米岛构成,含有多个纳米岛的bifeo3薄膜的铁电极化分布呈现极性嵌套斯格明子的分布组态;
5.根据权利要求4所述的具有嵌套斯格明子的bifeo3薄膜的制备方法,其特征在于,当所述沉积时间为6~9min时,得到的具有嵌套斯格明子的bifeo3薄膜的厚度为3~4.5nm,横向方向上所述多个纳米岛的平均粒径为100~200nm,所述嵌套斯格明子的...
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