快速测定汞齐中汞量的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种快速测定汞齐中汞量的方法及装置，属于测试技术领域。本发明专利技术利用汞齐加热时汞可挥发出来的特性，研发了精确测定汞齐含汞量方法及有利于实现该方法的装置，方法为加热汞齐，让汞从汞齐中释放出来，将加热的氩气作为汞蒸气的载体，进入盛有稀硝酸溶液的汞收集器捕捉氩气中携带的汞原子，再将在惰性气体氩气保护下的汞齐降至常温，比较汞齐质量差得出汞齐中的含汞量；装置由密闭容器、密闭容器内的支架、支架下方的加热元件、密闭容器外侧的汞收集器、与密闭容器连接的氩气加热器构成，该方法及装置适用于各种汞齐中汞含量的精确测定，降低了分析成本，提高了分析速度，本发明专利技术提供了一种简便的，行之有效的汞齐含汞量分析手段。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种快速测定汞齐中汞量的方法及装置，属于测试

技术介绍
随着人类环保意识的提高，绿色照明工程的发展，在电光源生产过程中采用固汞替代液汞是必然趋势，然而不同类型的灯需不同的汞齐，这就需要在使用汞齐前要预先知道准确的含汞量，依IEC62321/2nd CDV(111/95/CDV)，用ICP测定汞的含量，先称量样品于微波消解容器，加入消解试剂，在微波消解炉中消解样品，转移消解溶液到容量瓶内，用DI水定容，用ICP—AES/CVAA测定得到汞齐中的汞含量，然此法过程繁琐复杂，且耗时较长才能得出一个结果。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种快速测定汞齐中汞量的方法及装置，针对现有IEC62321/2nd CDV(111/95/CDV)测试方法过程繁琐复杂，且耗时较长的不足，通过本专利技术提供的测试方法及装置可以精确测定汞齐含汞量，降低分析成本，提高分析速度。本专利技术的目的是通过以下技术方案实现的，一种快速测定汞齐中汞量的方法，其特征是，所述的方法是将一定质量的汞齐置于密闭容器内的支架上加热，同时加热到250-350℃的氩气自密闭容器的上部的入口进入密闭容器内，经与密闭容器相通的管道进入汞收集器排放到空气中，加热汞齐至200～300度，保温30～60分钟后，汞收集器完全收集由氩气携带的汞齐中释放出来的汞蒸气，待汞齐中的汞完全释放后，再通入没有加热的氩气，将在惰性气体氩气保护下的汞齐降至常-->温，将汞齐残渣取出，比较释汞前后的汞齐质量差得出汞齐中的含汞量。汞收集器为盛有稀硝酸溶液的锥形容器，捕捉氩气中携带的汞原子。一种快速测定汞齐中汞量的装置，其特征是，所述的装置由密闭容器、密闭容器内的支架、支架下方的加热元件、经管道与密闭容器相通的汞收集器、与密闭容器连接的氩气加热器构成；密闭容器内加热元件经导线引出密闭容器，氩气加热器的进气管道上设置气加热阀门，气加热阀门前端进气管道与氩气加热器的出气管间并接串接阀门的管道。本专利技术利用汞齐加热时汞可挥发出来的特性，研发了精确测定汞齐含汞量方法及有利于实现该方法的装置，方法为加热汞齐，让汞从汞齐中释放出来，将加热的氩气作为汞蒸气的载体，进入盛有稀硝酸溶液的汞收集器捕捉氩气中携带的汞原子，再将在惰性气体氩气保护下的汞齐降至常温，比较汞齐质量差得出汞齐中的含汞量；装置由密闭容器、密闭容器内的支架、支架下方的加热元件、密闭容器外侧的汞收集器、与密闭容器连接的氩气加热器构成，该方法及装置适用于各种汞齐中汞含量的精确测定，降低了分析成本，提高了分析速度，本专利技术提供了一种简便的，行之有效的汞齐含汞量分析手段。附图说明图1为本专利技术装置结构示意图；图中，1汞齐，2耐热不锈钢支架，3电热丝，4加热器，5密闭容器，6阀门，7阀门，8汞收集器。具体实施方式结合附图和实施例进一步说明本专利技术，如图1所示，本专利技术所述的装置由密闭容器5、密闭容器5内的支架2、支架2下方的加热元件、密闭容器5外侧的汞收集器8、与密闭容器5连接的氩气加热器4构-->成；密闭容器5内加热元件经导线引出密闭容器，氩气加热器4的进气管道上设置气加热控制阀门6，气加热控制阀门6前端进气管道与氩气加热器4的出气管道间并接串接阀门7的管道，密闭容器5与汞收集器8经管道连接。本专利技术所述的方法是氩气经气体加热器4加热到250-350℃从密闭容器5的上面进入里面，加热元件电热丝3对耐热不锈钢支架2加热至200～300度，保温30～60分钟后，以便汞齐中的汞完全释放出来，加热的氩气作为汞蒸气的载体，进入盛有稀硝酸溶液的汞收集器8捕捉氩气中携带的汞原子，待汞齐中的汞完全释放后，将气加热控制阀门6关闭，阀门7打开，通入没有加热的氩气，将在惰性气体氩气保护下的汞齐降至常温，将降至常温的汞齐残渣1取出，再次称量，通过比较释汞前后的汞齐质量差，从而得出汞齐中的含汞量。汞齐的释汞率，即汞齐中已释放出来的汞与汞齐中固有汞的质量之比，当释汞率为100％之时，即意味着该汞齐中的汞已完全释放出来。汞齐中的汞的释放速度与温度相关，实验表明，当温度升至120度时，汞齐中的汞释放比较缓慢，在120度至320度的升温区，汞释放速度大大加强，在320度保温30分钟至60分钟时，汞齐中的汞完全释放出来。通过比较汞齐挥发前后的质量差，可以得出汞齐含汞量，测定结果是令人满意的，对剩下的汞齐残渣继续保温若干时间，剩下的汞齐残渣质量不变，显示出恒定的质量，这就很好的说明了汞齐中的汞已被定量迁移，而汞齐中的其它金属成份的挥发并不明显。需要指出的是，不同的固汞试验选用相应的温度控制。否则其它金属亦会有逸出而影响汞齐释汞的测定精确性。-->本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种快速测定汞齐中汞量的方法，其特征是，所述的方法是将一定质量的汞齐置于密闭容器内的支架上加热，同时加热到２５０－３５０℃的氩气自密闭容器的上部的入口进入密闭容器内，经与密闭容器相通的管道进入汞收集器排放到空气中，加热汞齐至２００～３００度，保温３０～６０分钟后，汞收集器完全收集由氩气携带的汞齐中释放出来的汞蒸气，待汞齐中的汞完全释放后，再通入没有加热的氩气，将在惰性气体氩气保护下的汞齐降至常温，将汞齐残渣取出，比较释汞前后的汞齐质量差得出汞齐中的含汞量。

【技术特征摘要】
1、一种快速测定汞齐中汞量的方法，其特征是，所述的方法是将一定质量的汞齐置于密闭容器内的支架上加热，同时加热到250-350℃的氩气自密闭容器的上部的入口进入密闭容器内，经与密闭容器相通的管道进入汞收集器排放到空气中，加热汞齐至200～300度，保温30～60分钟后，汞收集器完全收集由氩气携带的汞齐中释放出来的汞蒸气，待汞齐中的汞完全释放后，再通入没有加热的氩气，将在惰性气体氩气保护下的汞齐降至常温，将汞齐残渣取出，比较释汞前后的汞齐质量差得出汞齐中的含汞量。2、根据权利要求1所述的快速测定汞齐中汞量的方法，其特征是，汞收...

【专利技术属性】
技术研发人员：石广宏，朱加才，朱圣武，
申请(专利权)人：扬州市邗江神珠电子器材厂，
类型：发明
国别省市：32[中国|江苏]