用于测定酸度的温控装置制造方法及图纸

本技术提供了一种用于测定酸度的温控装置，属于酸度分析测定技术领域，用于解决低温恒温过程中温度控制难度大，温度不稳定的问题。本技术提供了一种用于测定酸度的温控装置包括：支撑板、半导体制冷片、散热组件和温控组件。支撑板上包括多个试样固定孔。试样固定孔由支撑板的上表面贯通至支撑板的下表面。半导体制冷片包括冷面和热面。冷面与支撑板的下表面贴合。散热组件与半导体制冷片的热面贴合。温控组件分别连接于支撑板和半导体制冷片。温控组件根据支撑板的温度调整半导体制冷片的制冷量。本方案的用于测定酸度的温控装置降低了低温恒温过程中温度控制难度，提高了待测试样冷浴温度的稳定性，进而有利于提高测定结果的准确度。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于酸度分析测定，具体涉及一种用于测定酸度的温控装置。

技术介绍

1、在进行酸度测定时，通常会将待测溶液和指示剂等混合在一个试管或烧杯内。为了确保准确度和稳定性，通常会将试管或烧杯等容器放置在冰水混合物中降温，恒温一定时间后进行滴定和读数。将试管或烧杯等容器放置在冰水混合物中可以有效地降低反应速率，使反应过程更为缓慢，从而提高准确度和稳定性。此外，将试管或烧杯等容器放置在冰水混合物中能够将反应温度降低到一个可以控制和测量的范围，从而更加方便操作和读数。但采用冰水混合物制冷试样时，低温恒温过程中温度控制难度大，温度不稳定，会影响测定结果的稳定性和准确性。

技术实现思路

1、因此，本技术要解决的技术问题在于提供一种用于测定酸度的温控装置，能够控制试样的温度，提高酸度测定的准确性和稳定性。

2、为了解决上述问题，本技术提供了一种用于测定酸度的温控装置，包括：支撑板、半导体制冷片、散热组件和温控组件。支撑板上包括多个试样固定孔。试样固定孔由支撑板的上表面贯通至支撑板的下表面。半导体制冷片包括冷面和热本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于测定酸度的温控装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的用于测定酸度的温控装置，其特征在于，所述支撑板为铝板。

3.根据权利要求1所述的用于测定酸度的温控装置，其特征在于，所述散热组件包括：

4.根据权利要求1所述的用于测定酸度的温控装置，其特征在于，所述温控组件包括：

5.根据权利要求4所述的用于测定酸度的温控装置，其特征在于，所述温度传感器设置于所述支撑板的下表面，且位于所述多个试样固定孔的中间。

6.根据权利要求1所述的用于测定酸度的温控装置，其特征在于，还包括：

7.根据权利要求6所述的用...

【技术特征摘要】

1.一种用于测定酸度的温控装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的用于测定酸度的温控装置，其特征在于，所述支撑板为铝板。

3.根据权利要求1所述的用于测定酸度的温控装置，其特征在于，所述散热组件包括：

4.根据权利要求1所述的用于测定酸度的温控装置，其特征在于，所述温控组件包括：

5.根据权利要求4所述的用于测定酸度的温控装...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢芳，郑卓，司琦，
申请(专利权)人：沈阳化工股份有限公司，
类型：新型
国别省市：