一种自动高低温环境试验装置制造方法及图纸

本技术提供一种自动高低温环境试验装置，包括箱体，箱体内沿着从上到下分为高温腔、工作腔和低温腔；高温腔安装在箱体的顶部内侧上，其出风口朝下设置；低温腔安装在箱体的底部内侧上，其出风口朝上设置；工作腔内形成容纳存放DDR产品的腔体，在工作腔靠近高温腔和低温腔的位置上分别设置有调温单元；高温腔、低温腔和工作腔内的温度传感器均电连接在控制室内的控制器上。本技术将箱体分为多个腔体，不仅实现了对DDR5产品放置的效果，同时还能获得对工作腔内温度的循环控制，在操作可视化的同时确保实现环境模拟评估效果，从而进行DDR5产品质量保证。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及分析，尤其是涉及可靠实验，具体为一种自动高低温环境试验装置。

技术介绍

1、目前半导体作为市场前沿技术竞争热点，品质保证必不可少，为了提高产品品质竞争力和质量可靠性，需要对产品进行可靠性评价，由于在高温或低温环境下，ddr5的性能和稳定性都可能受到影响，ddr5新型产品的品质满足客户需求和产品性能环境应用需求，通过高低温环境试验，可以验证ddr5在不同温度条件下的稳定性和可靠性，确保其在实际使用中不会因为环境温度的变化而出现性能下降或故障。

2、然而，常规对内存产品进行环境应用检测时无法实现在同一设备中进行高温以及低温的试验，且无法实现在同一空间内进行温度循环的检测。

技术实现思路

1、鉴于以上所述现有技术的缺点，本技术的目的在于提供一种自动高低温环境试验装置，用于解决现有技术的难点。

2、为实现上述目的及其他相关目的，本技术提供一种自动高低温环境试验装置，包括：

3、箱体1，所述箱体1内沿着从上到下分为高温腔2、工作腔3和低温腔4；

<p>4、所述高温腔2本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种自动高低温环境试验装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的自动高低温环境试验装置，其特征在于，所述工作腔(3)的横向一端封闭设置并安装在箱体(1)的内侧面上，另一端呈开口状放置DDR5产品；

3.根据权利要求2所述的自动高低温环境试验装置，其特征在于，所述调温单元包括气缸(8)和隔板(9)，所述隔板(9)对应设置在通孔(7)的两侧，隔板(9)远离工作腔(3)的一端通过气缸(8)安装在箱体(1)的内侧壁上；

4.根据权利要求3所述的自动高低温环境试验装置，其特征在于，所述隔板(9)的上下两端呈弧形设置，中间竖直设置。

5.根...

【技术特征摘要】

1.一种自动高低温环境试验装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的自动高低温环境试验装置，其特征在于，所述工作腔(3)的横向一端封闭设置并安装在箱体(1)的内侧面上，另一端呈开口状放置ddr5产品；

3.根据权利要求2所述的自动高低温环境试验装置，其特征在于，所述调温单元包括气缸(8)和隔板(9)，所述隔板(9)对应设置在通孔(7)的两侧，隔板(9)远离工作腔(3)的一端通过气缸(8)安装在箱体(1)的内侧壁上；

4.根据权利要求3所述的自动高低温环境试验...

【专利技术属性】
技术研发人员：张伟，
申请(专利权)人：海太半导体无锡有限公司，
类型：新型
国别省市：