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本技术提供一种自动高低温环境试验装置，包括箱体，箱体内沿着从上到下分为高温腔、工作腔和低温腔；高温腔安装在箱体的顶部内侧上，其出风口朝下设置；低温腔安装在箱体的底部内侧上，其出风口朝上设置；工作腔内形成容纳存放DDR产品的腔体，在工作腔靠近...
该专利属于海太半导体（无锡）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过海太半导体（无锡）有限公司授权不得商用。

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