同位素测量结果准确性判断方法及装置制造方法及图纸

技术编号:43016875 阅读:21 留言:0更新日期:2024-10-18 17:20
本公开提供了一种同位素测量结果准确性判断方法及装置,属于检测技术领域,该方法包括:将同位素测量数据在坐标系中进行曲线拟合,得到回归线;所述同位素测量数据包括多个数据点,每个数据点均包括第一同位素比值的相对偏差和对应的第二同位素比值的相对偏差;确定坐标系的坐标原点与所述回归线之间的第一距离;基于所述第一距离与第一设定阈值的相对大小对同位素测量结果准确性进行判断。本公开提供的同位素测量结果准确性判断方法及装置在缺乏标准物质的情况下,仅仅依靠全蒸发‑热电离同位素质谱法就能实现同位素的准确测量。

【技术实现步骤摘要】

本公开属于检测,更具体地说,是涉及一种同位素测量结果准确性判断方法及装置


技术介绍

1、对于金属元素同位素测量,当标准物质缺乏,或者需要测量的样品量非常小的时候(比如核科学中,测量皮克量级的铀同位素时),可以采用全蒸发-热电离同位素质谱法(te-tims)。全蒸发-热电离同位素质谱法能够最大可能得收集待测离子,测量的同位素比值更接近准确值,但是在测量过程中存在分馏效应,会影响测量结果的准确性。因此,亟需提出一种判断方法,来判断全蒸发-热电离同位素质谱法用于同位素测量的准确性,进而得到准确的同位素测量结果。


技术实现思路

1、本公开的目的在于提供一种同位素测量结果准确性判断方法及装置,在缺乏标准物质的情况下,仅仅依靠全蒸发-热电离同位素质谱法就能实现同位素的准确测量。

2、本公开实施例的第一方面,提供了一种同位素测量结果准确性判断方法,包括:

3、将同位素测量数据在坐标系中进行曲线拟合,得到回归线;所述同位素测量数据包括多个数据点,每个数据点均包括第一同位素比值的相对偏差和对应的第二同本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种同位素测量结果准确性判断方法,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的同位素测量结果准确性判断方法,其特征在于,所述将同位素测量数据在所述坐标系中进行曲线拟合,得到回归线,包括:

3.如权利要求1所述的同位素测量结果准确性判断方法,其特征在于,所述确定坐标系的坐标原点与所述回归线之间的第一距离,包括:

4.如权利要求1所述的同位素测量结果准确性判断方法,其特征在于,还包括:

5.如权利要求4所述的同位素测量结果准确性判断方法,其特征在于,所述基于第一测量数据拟合同位素分馏因子,包括:

6.如权利要求3所述的同位素测量结...

【技术特征摘要】

1.一种同位素测量结果准确性判断方法,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的同位素测量结果准确性判断方法,其特征在于,所述将同位素测量数据在所述坐标系中进行曲线拟合,得到回归线,包括:

3.如权利要求1所述的同位素测量结果准确性判断方法,其特征在于,所述确定坐标系的坐标原点与所述回归线之间的第一距离,包括:

4.如权利要求1所述的同位素测量结果准确性判断方法,其特征在于,还包括:

5.如权利要求4所述的同位素测量结果准确性判断方法,其特征在于,所述基于第一测量数据拟合同位素分馏因子,包括:

6.如权利要求3所述的同位素测量结果准确性...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵博逯海王军任同祥
申请(专利权)人:中国计量科学研究院
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1