增益介质精密装夹定位测量装置及增益介质性能分析方法制造方法及图纸

本申请涉及一种增益介质精密装夹定位测量装置及增益介质性能分析方法，其中，增益介质精密装夹定位测量装置，用于对增益介质进行精确定位，以确保其位置和方向的精确控制；同时，通过增益介质性能分析方法对增益介质的关键参数进行测量，同时能够分析和处理测量结果，提供对增益介质性能的评估和检验。本申请可以提供更高精度的装夹定位测量，从而使生产过程更加准确和高效；通过减少装夹误差，可以降低生产过程中的废品率，提高产品的质量和产量。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及材料科学，具体地，涉及一种增益介质精密装夹定位测量装置及增益介质性能分析方法。

技术介绍

1、随着科技的不断发展，增益介质在许多领域中扮演着重要角色，如通信、光学、电子等。然而，为了确保增益介质的有效性和性能，精密测量和检验是必不可少的。目前专门的增益介质精密装夹定位测量装置较少，而传统的装夹定位测量装置主要包括夹具、测量仪器和人工操作，传统装夹定位测量装置主要有机械夹具或液压夹具，受到机械原理和外部干扰的影响，无法满足高精度测量的需求。同时传统装夹定位测量装置的操作过程繁琐，需要较长的时间来完成测量和定位，降低了生产效率。传统的装夹定位测量装置还存在精度不高、装夹力过大等问题，常常导致工件变形、划伤等问题。

技术实现思路

1、为了克服现有技术中的至少一个不足，本申请提供一种增益介质精密装夹定位测量装置及增益介质性能分析方法。

2、第一方面，提供一种增益介质性能分析方法，包括：

3、获取不同入射波长下增益介质的入射光强数据和透射光强数据；

4、根据所述入射光强数据本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种增益介质性能分析方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多个群组包括低吸光度群组、中吸光度群组和高吸光度群组。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，其中，根据所述相关性确定增益介质的性能，包括：

4.一种增益介质精密装夹定位测量装置，其特征在于，包括：光学系统、定位平台系统(8)、二维平移台(23)和显微成像系统(15)；所述定位平台系统(8)用于定位增益介质(12)的位置，并控制所述增益介质(12)移动到目标位置；所述光学系统用于发射光束，并照射到所述增益介质(12)上；通过所述二维平移台(23)使得所述显微...

【技术特征摘要】

1.一种增益介质性能分析方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多个群组包括低吸光度群组、中吸光度群组和高吸光度群组。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，其中，根据所述相关性确定增益介质的性能，包括：

4.一种增益介质精密装夹定位测量装置，其特征在于，包括：光学系统、定位平台系统(8)、二维平移台(23)和显微成像系统(15)；所述定位平台系统(8)用于定位增益介质(12)的位置，并控制所述增益介质(12)移动到目标位置；所述光学系统用于发射光束，并照射到所述增益介质(12)上；通过所述二维平移台(23)使得所述显微成像系统(15)对准所述增益介质(12)，并获取所述增益介质(12)的数字图像。

5.如权利要求4所述的装置，其特征在于，所述光学系统包括沿光线传播方向依次设置的光纤激光器(1)、单色仪(2)、准直器(3)、一级扩束系统(4)、光束截取光阑(5)、二级扩束系统(6)、平面镜(7)。

6.如权利要求4所述的装置，其特征在于，所述定位平台系统(8)包括定位平台(24)和控制系...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘巍，李朝辉，朱辉，赵建科，毛振，耿波，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：