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本申请涉及一种增益介质精密装夹定位测量装置及增益介质性能分析方法，其中，增益介质精密装夹定位测量装置，用于对增益介质进行精确定位，以确保其位置和方向的精确控制；同时，通过增益介质性能分析方法对增益介质的关键参数进行测量，同时能够分析和处理测...
该专利属于中国科学院西安光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院西安光学精密机械研究所授权不得商用。

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