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本公开提供了一种同位素测量结果准确性判断方法及装置，属于检测技术领域，该方法包括：将同位素测量数据在坐标系中进行曲线拟合，得到回归线；所述同位素测量数据包括多个数据点，每个数据点均包括第一同位素比值的相对偏差和对应的第二同位素比值的相对偏差...
该专利属于中国计量科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国计量科学研究院授权不得商用。

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