【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电路测试，特别涉及一种128路模拟开关芯片的测试方法及测试装置。
技术介绍
1、128路高压模拟开关由于具有耐±35v高压及模拟转换通道多达128路，而在高可靠性的航天应用领域备受青睐，是卫星、航天器及空间探测任务的理想选择。而如何高效准确的评估128路高压模拟开关元器件的各项参数指标成为了元器件筛选过程中的一项挑战。因此需要开展相关测试方案研究，形成稳定有效低测试成本的实现方案。
2、128路抗辐照高压模拟开关全参数测试需要128路高压，128个继电器进行控制。这与目前传统模拟集成电路测试系统高压模拟测试资源有限、继电器控制资源有限等相冲突，目前ate测试系统资源受限，高达128路的模拟开关测试无法一遍测试完成，一颗电路需要进行多遍测试才能保证测试指标的覆盖。这将耗费大量的人力物力，会大大影响该器件的测试效率。
3、鉴于此，对于本领域技术人员而言，针对128路高压模拟开关指标测试，如何不依赖多遍测试、提高测试效率、降低测试成本，是目前128路高压模拟开关测试技术发展的一个重要问题。
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【技术保护点】
1.一种128路模拟开关芯片的测试方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的128路模拟开关芯片的测试方法，其特征在于，通过上位机运行测试程序，所述FPGA每次掉电地址码会清空，PCB板上电之后，首先存储单元将存储好的地址码烧写进FPGA。
3.一种128路模拟开关芯片的测试装置，其特征在于，包括测试PCB板、上位机、测试程序，
4.如权利要求3所述的128路模拟开关芯片的测试装置，其特征在于，所述上位机用于测试程序的开发，测试程序的运行以及显示测试结果；所述电源模块给整个系统提供额定工作电压，包括给存储模块、FPGA、继电器...
【技术特征摘要】
1.一种128路模拟开关芯片的测试方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的128路模拟开关芯片的测试方法，其特征在于，通过上位机运行测试程序，所述fpga每次掉电地址码会清空，pcb板上电之后，首先存储单元将存储好的地址码烧写进fpga。
3.一种128路模拟开关芯片的测试装置，其特征在于，包括测试pcb板、上位机、测试程序，
4.如权利要求3所述的128路模拟开关芯片的测试装置，其特征在于，所述上位机用于测试程序的开发，测试程序的运行以及显示测试结果；所述电源模块给整个系统提供额定工作电压，包括给存储模块、fpga、继电器、测试单元及被测芯片供电；所述存储单元存储128路继电器驱动地址码，在每次系统重新上电后，存储单元自动将地址码烧写进fpga；所述fpga用于扩展继电器控制位，fpga的输入脚与ate连接，输出脚分别与128路继电器控制位相连接；所述继电器的公共端用于连接fpga，常开端用于连接128路模拟...
【专利技术属性】
技术研发人员：王晓文，韩先虎，郭晓宇，程法勇，王建超，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第五十八研究所，
类型：发明
国别省市：
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