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本发明公开一种128路模拟开关芯片的测试方法及测试装置，属于电路测试领域，包括测试PCB板、上位机、测试程序，所述测试PCB板包括母板、子板，所述母板包括电源模块、存储单元、FPGA芯片、继电器，所述子板包括测试单元、测试夹具和被测芯片。本...
该专利属于中国电子科技集团公司第五十八研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第五十八研究所授权不得商用。

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