分级非对称内核属性检测制造技术

技术编号:42863344 阅读:30 留言:0更新日期:2024-09-27 17:26
在处理系统内,当处理设备的一个或多个内核被禁用时,线程计数非对称性显现。为了确定此类线程计数非对称性,执行发现操作以基于分级结构级别内每个枚举实例的线程数量来确定处理设备的一个或多个分级结构级别的线程计数非对称性。响应于确定线程计数非对称性,定义非对称分级结构级别内的每个枚举实例的一个线程标识符以确定非对称性的表示。使用对称性的表示,执行与处理系统内的一个或多个应用程序相关联的软件任务。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】


技术介绍

1、在处理系统内,操作系统使用一个或多个处理器的处理器拓扑信息来执行与应用程序相关联的软件任务。例如,操作系统使用处理器拓扑信息来为与应用程序相关联的软件任务执行多个处理器资源管理实践,诸如任务和线程调度。处理器的处理器拓扑信息标识了处理系统内用于执行应用程序的软件任务的硬件和软件资源的分级布置。然而,处理系统内的内核属性非对称性可能导致操作系统低效或错误地管理处理器的硬件和软件资源,这可能对应用程序的处理效率和处理时间产生负面影响。另外,此类非对称性可能导致操作系统在补偿非对称性时使用附加存储器和处理资源。


技术实现思路

【技术保护点】

1.一种方法,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,所述方法还包括:

3.根据权利要求1或权利要求2所述的方法,其中,为所述处理设备的所述分级结构级别内的每个枚举实例仅定义一个线程标识符,以产生所述分级结构级别处的所述非对称性的所述表示。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,所述方法还包括:

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,所述方法还包括:

6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法,其中,每个枚举实例的所述线程标识符基于存储在寄存器中的位移值。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法,所述方...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种方法,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,所述方法还包括:

3.根据权利要求1或权利要求2所述的方法,其中,为所述处理设备的所述分级结构级别内的每个枚举实例仅定义一个线程标识符,以产生所述分级结构级别处的所述非对称性的所述表示。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,所述方法还包括:

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,所述方法还包括:

6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法,其中,每个枚举实例的所述线程标识符基于存储在寄存器中的位移值。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法,所述方法还包括:

8.根据权利要求7所述的方法,其中,所述被禁用的内核被熔丝禁用。

9.根据权利要求7所述的方法,其中,所述被禁用的内核被软件禁用。

10.一种系统,所述系统包括:

11.根据权利要求10所述的系统,所述一个或多个...

【专利技术属性】
技术研发人员:迈克尔·戈尔登保罗·布林策马吉廷·塔莉萨永斯里坎斯·马萨纳姆里帕尔·巴塔尼乌帕萨纳·斯瓦米纳坦
申请(专利权)人:超威半导体公司
类型:发明
国别省市:

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