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在处理系统内，当处理设备的一个或多个内核被禁用时，线程计数非对称性显现。为了确定此类线程计数非对称性，执行发现操作以基于分级结构级别内每个枚举实例的线程数量来确定处理设备的一个或多个分级结构级别的线程计数非对称性。响应于确定线程计数非对称性...
该专利属于超威半导体公司所有，仅供学习研究参考，未经过超威半导体公司授权不得商用。

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