半导体结构的制备方法及半导体结构技术

技术编号:42852274 阅读:29 留言:0更新日期:2024-09-27 17:19
本发明专利技术涉及一种半导体结构的制备方法及半导体结构。半导体结构的制备方法包括:提供基板,基板的顶面键合有布线层,布线层远离基板的一侧倒装有器件层;于布线层远离基板的表面形成填充层,填充层包覆器件层的外表面;去除部分基板,以形成支撑结构;支撑结构内具有多个通孔,通孔暴露出布线层靠近基板的部分表面;于多个通孔内形成多个凸台结构,凸台结构与布线层电连接;凸台结构的厚度小于支撑结构的厚度;去除部分填充层以形成包封层,包封层包覆器件层的侧表面,并暴露出器件层远离基板的表面。上述半导体结构的制备方法能够有效避免倒装封装工艺中的结构翘曲。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体制造,特别是涉及一种半导体结构的制备方法及半导体结构


技术介绍

1、芯片常应用于诸如个人电脑、手机或数码相机等的电子设备中。随着电子设备对小型化及薄型化的设计需求越来越高,以及芯片设计与制备技术的不断进步,芯片的制备工艺也面临诸多挑战。

2、倒装芯片技术是解决复杂集成需求的重要芯片封装技术。通过芯片上的凸点,可以直接将芯片或包含芯片在内的元器件倒置,以互连到基板、载体或者电路板上。倒装芯片技术以结构紧凑且可靠性高,在封装行业应用越来越广泛。

3、然而,传统的倒装芯片封装过程中,在解除玻璃基板的键合后,由于缺少支撑,整个封装结构的应力发生较大变化,导致结构产生翘曲,从而对产品的可靠性造成影响。


技术实现思路

1、基于此,本申请实施例提供了一种半导体结构的制备方法及半导体结构,能够有效避免倒装封装工艺中的结构翘曲。

2、根据一些实施例,本申请提供了一种半导体结构的制备方法,方法包括:

3、提供基板,基板的顶面键合有布线层,布线层远离基板的一侧倒本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体结构的制备方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的半导体结构的制备方法,其特征在于,所述去除部分所述基板,以形成支撑结构,包括:

3.根据权利要求2所述的半导体结构的制备方法,其特征在于,所述于所述基板的底面形成图形化掩模层,包括:

4.根据权利要求3所述的半导体结构的制备方法,其特征在于,所述掩模材料层的厚度范围包括10μm-20μm。

5.根据权利要求1所述的半导体结构的制备方法,其特征在于,所述凸台结构包括焊球;所述于所述多个通孔内形成多个凸台结构,包括:

6.根据权利要求1所述的半导体结构的制备方...

【技术特征摘要】

1.一种半导体结构的制备方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的半导体结构的制备方法,其特征在于,所述去除部分所述基板,以形成支撑结构,包括:

3.根据权利要求2所述的半导体结构的制备方法,其特征在于,所述于所述基板的底面形成图形化掩模层,包括:

4.根据权利要求3所述的半导体结构的制备方法,其特征在于,所述掩模材料层的厚度范围包括10μm-20μm。

5.根据权利要求1所述的半导体结构的制备方法,其特征在于,所述凸台结构包括焊球;所述于所述多个通孔内形成多个凸台结构,包括:

6.根据权利要求1所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员:李慧李宗怿潘波张章龙陶佳强张诺琦江斐
申请(专利权)人:长电集成电路绍兴有限公司
类型:发明
国别省市:

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